Gebraucht HITACHI S-4800 #9389829 zu verkaufen

HITACHI S-4800 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein feldemissionsrasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Bildgebung, Analyse und Charakterisierung einer Vielzahl von Materialproben. Das SEM ist in der Lage, Bilder mit einer Vergrößerung von bis zu 50.000x zu erzeugen, so dass es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, wie Nanotechnologie, Halbleiteranalyse, Materialwissenschaft und forensische Analyse. HITACHI S 4800 zeichnet sich durch eine außergewöhnliche Kombination aus hochauflösender Bildgebungs- und Analysefähigkeit aus, dank Feldemissionskanone, Probenstufe und hochauflösenden Detektoren. Die Field Emission Gun (FEG) Pistole ist eine spezielle Art von Elektronenkanone, die einen Elektronenstrahl mit einer viel niedrigeren Spannung als eine Thermionkanone emittiert. Dies erhöht die potenzielle Auflösung des SEM, so dass es kleine Proben und Details sowie größere Strukturen mit viel mehr Klarheit visualisieren kann. Die Objektstufe hat eine ungewöhnliche Funktionseinstellung, so dass die Bühne auf einen Winkel von bis zu 35 ° neigen kann, so dass der Benutzer Proben aus verschiedenen Winkeln betrachten und schwer zu beobachtende Details besser visualisieren kann. Das Detektorsystem auf S-4800 ist ein hochauflösender SE2-Detektor, ein SE3 Sekundärelektronendetektor, ein BSE-Detektor für Rückstreuelektronen, ein PBS-SB Sekundärelektronendetektor für die Strukturanalyse und ein Mikrospotdetektor für die quantitative Analyse. Diese Kombination von Detektoren ermöglicht es dem Benutzer, verschiedene Parameter der Probe zu analysieren, wie Oberflächenrauhigkeit, Probenzusammensetzung, kleine Merkmalsgrößen, Schnittstellenmerkmale, Mikrotexturen, Oberflächentopographien und mehr. Sie ermöglichen auch die Bildgebung im Hoch- und Niedervakuum-Modus. S 4800 ist ein vielseitiges System, das den Anforderungen jeder Forschungsanwendung angepasst werden kann. Eine Reihe von optionalem Zubehör ist verfügbar, darunter das IIT-Kamerakonfigurationsmodul und die hochpräzise ultralow Vakuum-Probenkammer. Dieses Mikroskop verfügt zudem über eine benutzerfreundliche Softwareschnittstelle, die es dem Anwender ermöglicht, das Mikroskop einfach zu bedienen und seine Daten zu analysieren. HITACHI S-4800 wurde entwickelt, um hochauflösende Bildgebung und beeindruckende Funktionalität zu bieten und ist damit ein wertvolles Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.