Gebraucht HITACHI S-4800 #9399570 zu verkaufen

HITACHI S-4800
ID: 9399570
Weinlese: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM) 2008 vintage.
HITACHI S-4800 Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches bildgebendes und analytisches Instrument, das für eine breite Palette von Materialwissenschaften und nanoskalige Forschung entwickelt wurde. Es arbeitet nach dem Prinzip der Rasterelektronenmikroskopie (SEM): Ein energiereicher Elektronenstrahl scannt über eine Probe, um ein detailliertes dreidimensionales Bild zu erzeugen, aus dem dimensionale Messungen, elementare Zusammensetzung und sogar Oberflächentopographie extrahiert werden können. HITACHI S 4800 bietet einen variablen Vergrößerungsbereich von 50x bis 500.000x und ermöglicht es Forschern, alles von Mikroorganismen bis hin zu nanoskaligen Oberflächen zu untersuchen. Seine hervorragende Leistung ist das Ergebnis innovativer Konstruktionsmerkmale, darunter eine kompakte und steife Säule, eine Hochgeschwindigkeits-Feldemissionskanone, eine Hochleistungs-Low-Speed-Bessel-Säule und ein Sortiment an fortschrittlichen Objektiven und Filtern. Das Mikroskop nutzt eine Vielzahl von Detektoren, darunter einen Sekundärelektronendetektor, einen rückgestreuten Elektronendetektor, einen Röntgendetektor und einen energiedispersiven Röntgendetektor. Kombiniert mit fortschrittlicher Software geben diese Detektoren Forschern die Möglichkeit, topographische und elementare Informationen auf nanoskaliger Ebene zu visualisieren. S-4800 bietet auch eine Reihe von analytischen Fähigkeiten, wie Energiedispersive Spektroskopie (EDS) und Elektronenenergieverlust Spektroskopie (EELS). Diese Techniken ermöglichen es Forschern, Signale zu untersuchen, die Informationen über die chemische Zusammensetzung und den Heilungszustand von Proben auf molekularer Ebene liefern. S 4800 wurde entwickelt, um den hohen Anforderungen der modernen Materialanalyse gerecht zu werden. Sein ergonomisches Design und seine intuitive Benutzeroberfläche ermöglichen eine präzise und genaue Bedienung, während seine Stufe mit variabler Temperatur, seine Kühleinheit und seine motorisierte Kippsteuerung erweiterte Probenhandhabungsfunktionen für eine breite Palette von Materialien bieten. Zusammenfassend ist das HITACHI S-4800 Rasterelektronenmikroskop ein ideales Instrument für die Materialwissenschaft und nanoskalige Forschung. Es bietet eine Reihe von erweiterten Funktionen zur Untersuchung der Struktur und Zusammensetzung von Materialien, von der makro- bis nanoskaligen Ebene. Seine überlegenen bildgebenden, analytischen und Probenhandhabungsfähigkeiten machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für eine breite Palette von Forschungsanwendungen.
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