Gebraucht HITACHI S-4800 #9408669 zu verkaufen

HITACHI S-4800 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bilder und spektroskopische Informationen von Oberflächen und Materialien liefert. Es ist mit einer optimal gestalteten großen Kammer von 600mm H x 690mm W ausgestattet, die einen höheren Durchsatz der Probe ermöglicht. Es gewährleistet maximale Genauigkeit in der Probenbildgebung auch bei komplexer Oberflächenstruktur. HITACHI S 4800 liefert anschauliche Bilder von Oberflächenstruktur, Zusammensetzung und Rauheit. Das Mikroskop besteht aus hochstatischen und bewegungslosen Instrumenten, die eine Vergrößerung von bis zu 300 kV und die Beobachtung von Proben aus mehreren Blicken ermöglichen. Es ist mit fortschrittlicher Elektronenoptik und Feldemissionskanone integriert, die hohe Qualität der Abtastbilder erzeugen. Darüber hinaus erreicht seine Auflösung in der Sekundär- und Rückstreuelektronenbildgebung bis zu 3nm. Darüber hinaus wird S-4800 mit einem Spektrum- und Elementanalysesystem ermöglicht, das große Einblicke in das in der Probe vorhandene Element bietet. Das System wird durch wellenlängendispersive Röntgenstrahlung, energiedispersive Röntgenstrahlung und Elektronenrückstreuung angetrieben. Diese Elemente ermöglichen eine bessere Analyse im Probenmaterial wie die Charakterisierung der Grenzfläche zwischen Materialien, die Untersuchung der Diffusionsschicht, die Messung der Korngröße, Zusammensetzungen und Verteilungen. Verschiedene automatisierte Scanwerkzeuge sind mit der Grundausstattung zur Optimierung der Probenbildgebung ausgestattet. Nahtloses manuelles Scannen, niedrige Dosisabbildungen und automatisierte Bildnähte ermöglichen es Benutzern, die Details der Probe unter unauffälligen Bedingungen zu erfassen. Abschließend ist S 4800 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder und spektroskopische Informationen der Probenoberfläche liefert. Seine ausgeklügelte Elektronenoptik, Feldemissionskanone und automatisierte Werkzeuge ermöglichen eine detaillierte Analyse der Probenoberfläche. Das SEM eignet sich am besten für Wissenschaftler, die komplexe Oberflächenstruktur und Materialzusammensetzung erforschen möchten.