Gebraucht HITACHI S-5000 #293632287 zu verkaufen

ID: 293632287
Weinlese: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Electron gun: Cold field emission type Built-in butter type Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction method Objective lens: Movable aperture Stigma toll: 8-Pole electromagnetic system Deflection coil: 2-Stage Secondary electron resolution: 0.6 nm Acceleration voltage: 30 kV 30 nm Acceleration voltage: 1 kV Magnification: LM Mode: 30x - 500x HM Mode: 250x - 800,000x Sample fine movement device: Side entry method Movement stage: X-axis: ± 3.5 mm Y-axis: ± 2 mm T-axis: ± 40° Stage control: Movement speed switched in 3 steps Sample size: 9mm x 5 mm x 2.4 mm, 9.5 mm x 5 mm x 4.4 mm Sample exchange: Airlock method Display: Secondary electron image Still image display with built-in image memory Image memory: Pixel high-definition memory two sides Photographing of high-definition 1024 x 1024 image Real-time TV display of slow scan image Image integration on TV and first scan Real-time histogram display 4-Split image display Acceleration voltage: 0.5–30 kV (0.1 kV step) 2000 vintage.
HITACHI S-5000 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Materialien und Industrien entwickelt wurde. Das Gerät verfügt über eine ultrahochauflösende Rasterelektronensäule mit einer analytischen Auflösung von bis zu 0,8 nm, die eine hochauflösende Bildgebung und Elementaranalyse ermöglicht. Diese erweiterte Säule hat eine beschleunigende Spannung von bis zu 30 kV und variable wassergekühlte Elektronenquelle, um zuverlässige Betriebs- und Qualitätsanalyseergebnisse zu gewährleisten. Das System ist mit einer Zwei-Positionen-Probenstufe ausgestattet, die einen einfachen Transfer von Proben zwischen zwei vorpositionierten Stufen und einen einfachen Probenaustausch ermöglicht. Das Gerät ist zudem mit einer Dual-Tilt-Funktion ausgestattet, die das Kippen von Proben in beide Richtungen für nicht-orientierte Anwendungen ermöglicht. Die Maschine kann mit einer breiten Palette von Detektoren ausgestattet werden, um eine fortschrittliche Bildgebung und Analyse zu ermöglichen, einschließlich eines Everhart-Thornley-Detektors und eines rückgestreuten Elektronendetektors. Dadurch kann der Anwender wesentliche Informationen in Form von Bildern und Daten erfassen sowie kompositorische Analysen wie die Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) durchführen. Darüber hinaus umfasst das Werkzeug auch eine automatisierte Chrom-Gold-Beschichtungseinheit, die eine Beschichtung von Proben vor der Analyse ermöglicht, um eine leitfähige Oberfläche zu erzeugen, die bei der Analyse hilft. Dieses Asset umfasst auch automatisierte Fokus- und Stigillationsfunktionen, die eine einfache Ausrichtung und Bedienung ermöglichen. Schließlich ist das Modell mit einem fortschrittlichen Controller ausgestattet, der Zugriff auf eine intuitive Benutzeroberfläche, einfaches Workflow-Management und erweiterte Datenkontrolle bietet. Darüber hinaus ist die Ausrüstung auch in der Lage, Daten in einer Vielzahl von branchenüblichen Formaten auszugeben, was die Kompatibilität mit Softwarepaketen nach Industriestandard ermöglicht. HITACHI S 5000 ist ein branchenführendes SEM, das für eine Vielzahl von Materialien und Industrien entwickelt wurde. Dank seiner extrem hohen Auflösungsfunktionen und erweiterten Funktionen ist es eine ideale Wahl für alle, die detaillierte Bilder und Daten, Genauigkeit und Wiederholbarkeit suchen.
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