Gebraucht HITACHI S-5000 #51610 zu verkaufen

HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Werkzeug, das für überlegene Auflösung und Produktivität in der Elektronik- und Werkstoffindustrie optimiert ist. Dieses SEM produziert hochauflösende Bildgebung mit außergewöhnlicher Geschwindigkeit und Genauigkeit und ist damit die perfekte Wahl für die Abbildung anspruchsvoller Materialien und Geräte. HITACHI S 5000 bietet auch eine beeindruckende Palette von Analysefunktionen und ist damit eines der fortschrittlichsten verfügbaren Instrumente. S-5000 ist mit einer Reihe von Funktionen zur Optimierung der hochauflösenden Bildgebung konzipiert. Herzstück der Ausrüstung ist ein High Performance SE Detektor, der kürzere Bildgebungszeiten, höhere Auflösung und höhere Zählrate als frühere Modelle ermöglicht. Das System beinhaltet auch die SuperSpeed Scan Control-Technologie, die eine schnellere, präzisere Bewegung und Platzierung des Scanmusters über die Probe ermöglicht, was zu einer qualitativ hochwertigen Bildgebung mit minimalem Auflösungsverlust führt. Darüber hinaus enthält das SEM einen digitalen Signalprozessor (DSP), um genauere Messungen der Probe zu gewährleisten. S 5000 bietet eine echte quantitative Analysefähigkeit mit leistungsstarken automatisierten Softwarelösungen für QuickScan und TotalAnalysis. QuickScan bietet automatisierte, benutzerfreundliche Funktionen zur Analyse flacher Proben und ermöglicht eine schnellere Probenbildgebung und Probenanalyse. TotalAnalysis bietet verbesserte Datenerfassungsfunktionen, die eine gleichzeitige Erfassung von Bildern und EDX-Signalen ermöglichen. Dieses Merkmal ermöglicht den Nachweis kleiner Partikel, die Analyse schwerer Elemente und die Beobachtung unterschiedlichster Materialeigenschaften. HITACHI S-5000 bietet auch eine große Auswahl an integrierten Software- und Programmierpaketen, die den Anforderungen unterschiedlichster Anwendungen gerecht werden. Zu den Konnektivitätsoptionen gehören eine 10/100 BaseT Ethernet-Verbindung, digitale Signal-I/O und ein USB-Anschluss für die direkte Übertragung von Daten. HITACHI S 5000 verwendet eine Vielzahl von Detektoren für eine Vielzahl von bildgebenden Anforderungen, einschließlich Sekundärelektronen (SE) -Bildgebung, Sekundärelonen (SI) -Bildgebung, Backscatter Electron (BSE) -Bildgebung und Cathodolumineszenz (CL) -Bildgebung. Neben einer beeindruckenden Palette an bildgebenden Funktionen und Analysepaketen wurde S-5000 entwickelt, um die Sicherheits- und ergonomischen Anforderungen der anspruchsvollsten Umgebungen zu erfüllen. Der Arbeitsplatz verfügt über eine Kipptheta-Achse und eine automatisierte Fünf-Achsen-Einheit, die den Einsatz des SEM in manuellen oder automatisierten Modi ermöglicht. Die Maschine ist mit einem übergroßen farbigen LCD-Monitor und einem intuitiven manuellen Steuergerät mit Soft-Key-Bedienelementen und einem Schieberegler zur Steuerung des optischen Stroms ausgestattet. Abschließend ist S 5000 Scanning Electron Microscope ein fortschrittliches, leistungsstarkes Instrument, das erweiterte Bildgebungs- und Analysefunktionen für die anspruchsvollsten Anwendungen bietet. Sein robustes Design und seine Sicherheitsfunktionen bieten zuverlässige Leistung in einer Vielzahl von Arbeitsumgebungen, was es zu einer idealen Wahl für Präzisionsbildgebung und -analyse macht.