Gebraucht HITACHI S-5000 #9097826 zu verkaufen
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ID: 9097826
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1994
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 8"
Metro system
1994 vintage.
HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope ist ein modernes Analysewerkzeug für die Analyse von Materialien bis hin zum Nanoskala. Dieses Werkzeug eignet sich für eine Vielzahl von Materialien wie Metalle, Polymere, Halbleiter und mehr. Es zeigt einen Weitwinkel lange Arbeitsentfernungsfeldemissionselektronpistole (FEG), der ausgezeichnete Punktqualität und mit hoher Auflösung Bilder berücksichtigt. Das Mikroskop verfügt auch über ein Hochvakuumsystem für eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten wie Energy Dispersive Röntgenspektrometrie (EDS) und Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS). HITACHI S 5000 bietet zwei Abbildungsmodi, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung und abtastender Transmissionsbildgebung. Der sekundäre Elektronenbildmodus dient dazu, hochauflösende Bilder von Oberflächen mit einer maximalen Vergrößerung des 120.000-fachen zu erhalten. Der zweite Abbildungsmodus, der Scanübertragungsmodus, bietet eine vergrößerte Ansicht der Probe und kann für die molekulare Analyse verwendet werden. Der Sekundärelektronendetektor ermöglicht einen niedrigen Kontrast und eine hohe räumliche Auflösung der Probenoberfläche, während der automatische Strahlstromregler dafür sorgt, dass die Probe nicht beschädigt wird. Zu den weiteren Merkmalen von S-5000 gehören die Möglichkeiten der Umweltanalyse wie luftdichter Betrieb, schwingungsarme Beobachtung und Temperaturregelung. Das Mikroskop verfügt auch über ein einzigartiges Probenautomatisierungssystem, mit dem eine Vielzahl von Experimenten durchgeführt werden können, ohne dass Proben manuell ausgetauscht werden müssen. Dieses System bietet auch eine ausgezeichnete Plattform für korrelative Mikroskopie, eine analytische Technik zur Kombination von Elektronenmikroskopie, Röntgenradiographie und optischer Fluoreszenzmikroskopie. S 5000 Rasterelektronenmikroskop verfügt über alle Funktionen, die erforderlich sind, um qualitativ hochwertige Bilder und analytische Daten über eine breite Palette von Materialien zu erhalten. Mit einem Weitwinkel lange Arbeitsentfernungsfeldemissionselektronpistole, die mit Doppelbildaufbereitungsweisen und Umweltanalysefähigkeiten verbunden ist, ist dieses Werkzeug die vollkommene Wahl für eine Vielfalt von analytischen Anwendungen.
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