Gebraucht HITACHI S-5000 #9134032 zu verkaufen

Das HITACHI S-5000 Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges Analysewerkzeug, das in der Lage ist, hochauflösende Abbildungen zu erstellen und extrem kleine Unterschiede in Probenstrukturen zu erkennen. Dieses Mikroskop ist in der Lage, Proben mit einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer abzubilden und mit seiner Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDXA) die elementare Zusammensetzung der Proben zu spektralisieren und zu analysieren, ohne die Probe zu schädigen. Die Bild- und Analysefähigkeit in so kleinem Maßstab bietet Forschern in vielen Disziplinen eine Fülle von Informationen. Der Bediener des HITACHI S 5000 erhält von seinem bedienerfreundlichen Bedienfeld eine breite Palette an Kontrolle über die Einstellungen und Abbildungsparameter des Instruments. Zur Steuerung des Elektronenstrahls, der zur Abtastung und Abbildung von Proben verwendet wird, dient ein elektrostatisches Linsensystem. Während die automatische Fokussierung des Strahls verwendet werden kann, kann der Bediener auch den Fokus des Strahls manuell anpassen, um seine Bildgebung zu optimieren. Die Spannung des Strahls kann auch eingestellt werden, um gewünschte Vergrößerungsgrade zu erhalten, ohne die Probe zu verändern. S-5000 können in verschiedenen Stufen der Probenvorbereitung verwendet werden, so dass Abbildungen von Proben vor und nach der Weiterverarbeitung möglich sind. Beispielsweise können Proben aus einer Vakuumkammer entnommen und anschließend auf S 5000 abgebildet werden. Dies kann besonders nützlich sein, um die Ergebnisse von Probeninfiltrationsfülltechniken zu untersuchen, die von vielen Materialwissenschaftlern verwendet werden. HITACHI S-5000 ist mit zwei Detektoren ausgestattet, die zur Detektion der emittierten Sekundärelektronen verwendet werden können, um Bilder von Proben zu bilden. Der erste Detektor ist optimiert, um Standard-Sekundärelektronen zu detektieren, die eine detaillierte topographische Ansicht von Proben liefern können. Der zweite Detektor ist dazu ausgelegt, rückgestreute Elektronen zu detektieren, die eine andere Art der Bilderzeugung liefern. Die Kombination dieser beiden Detektoren bietet eine einzigartige Ansicht einer Probe, die Merkmale aufzeigen kann, die nicht mit jedem Detektor einzeln beobachtet werden konnten. Diese Vielseitigkeit, kombiniert mit der geringen Größe und der hohen Auflösung des Mikroskops machen HITACHI S 5000 zu einem idealen Instrument für eine Vielzahl von Anforderungen an die Probencharakterisierung.