Gebraucht HITACHI S-5000 #9144799 zu verkaufen

HITACHI S-5000
ID: 9144799
Wafergröße: 8"
Field emission semi electron microscope (FESEM), 8".
HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein anspruchsvolles Instrument zur Abbildung kleiner Merkmale einer Probe bei extrem hohen Auflösungen. Es verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um mit der Probe zu interagieren und ein sekundäres und/oder rückgestreutes Elektronenbild zu erzeugen. Die Elektronenoptik des SEM verwendet eine Vielzahl von Linsen, um den Elektronenstrahl auf die Probe zu fokussieren, was eine hohe Vergrößerung der Probe ermöglicht. HITACHI S 5000 verfügt auch über eine automatisierte Probenphase mit virtueller Ausrichtung, die scharfe, klare Bilder bei verschiedenen Vergrößerungs- und Auflösungsstufen ermöglicht. S-5000 verfügt über eine Vielzahl von bildgebenden Optionen, so dass Bilder in verschiedenen Auflösungen und Vergrößerungen aufgenommen werden können, mit hohem Kontrast zur einfachen Identifizierung feinerer Details. Es verwendet zwei Arten von Elektronenquellen - eine E-Gun und Schottky Feldemissionskanone, die kontinuierlich überwacht und zur Optimierung der Auflösung eingetastet werden. Zusätzlich ist das Instrument mit einem hochauflösenden Monochromator zur Beseitigung chromatischer Aberrationen ausgestattet, der noch schärfere Bilder für eine größere Auswahl an Probenmaterialien liefert. Um die Bildqualität weiter zu verbessern, verfügt die Elektronensäule von S 5000 über ein leistungsstarkes automatisiertes Ausrichtungssystem, um eine genaue Linsenfokussierung und Signalsammlung sicherzustellen. Für diejenigen, die mit Proben arbeiten, die extrem empfindlich auf Luftströme oder Wärme sind, verfügt HITACHI S-5000 über eine umweltversiegelte Vorabtastkammer, die stabile Sichtbedingungen gewährleistet und zusätzliche Umweltkontrollmaßnahmen eliminiert. Zusätzlich beinhaltet das SEM ein PC-basiertes Schwarz-Weiß-Optiksystem zur automatischen Interpretation der Ergebnisse, das das Rätselraten der manuellen Interpretation von Daten entzieht. In Bezug auf die Sicherheit verfügt HITACHI S 5000 über eine Xenonspülung des gesamten Systems, die das Risiko einer Kontamination der Probe durch eine inerte Atmosphäre minimiert. Darüber hinaus ist das Instrument mit einer antistatischen Vorrichtung ausgestattet, um das Potential der elektrostatischen Beschädigung von Proben zu reduzieren. Insgesamt ist S-5000 ein unschätzbares Werkzeug für extrem hohe Auflösungen mit minimalem Aufwand, mit der Sicherheit, dass die erzielten Ergebnisse zuverlässig und gültig sind. Mit seiner Fülle an praktischen Funktionen ist es eine ideale Wahl für jedes Labor, das nach maximaler Bildqualität aus den neuesten Fortschritten in der Rasterelektronenmikroskopie sucht.
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