Gebraucht HITACHI S-5000 #9269130 zu verkaufen

HITACHI S-5000
ID: 9269130
Wafergröße: 4"
Scanning Electron Microscope (SEM), 4".
HITACHI S-5000 ist ein hochleistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop. Es bietet qualitativ hochwertige Bildgebung mit seinem variablen Druck Sekundärelektronendetektor. Dieses Gerät ist für viele Anwendungen geeignet, da es verschiedene Abbildungsmodi bietet. Zu den Hauptmerkmalen gehören Wide Gap Secondary Electron Detector (WSED), Tilt-Mode Imaging, In-Lens Type Backscattered Electron Detector (BED) und High Resolving Power Detector. Der WSED-Detektor ermöglicht die leistungsstarke und effiziente Erfassung von Breitspalt-Sekundärelektronen zur dreidimensionalen Beobachtung. Es verfügt über ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis und einen breiten Dynamikbereich, der eine genauere Abbildung großer Oberflächenmerkmale ermöglicht. In-Linse Typ BED ist ein spezialisierter Detektor, der Signalspannungen von rückstreuenden Elektronen verstärkt und in der Lage ist, ein subtiles Signal zu detektieren. Es eignet sich ideal zur Untersuchung sehr feiner Strukturen, wie sie in Halbleiter- und MEMS-Strukturen vorkommen. Darüber hinaus ermöglicht Tilt-Mode Imaging Benutzern, Bilder von gekippten Proben in Winkeln von bis zu 30 Grad aufzunehmen. Der hochauflösende Leistungsdetektor bietet eine verbesserte Leistung gegenüber herkömmlichen Detektoren und eignet sich zur Erfassung sehr feiner Strukturen und Details. Es bietet eine verbesserte räumliche Auflösung mit einer hohen numerischen Apertur, was es ideal für die Auflösung von Nanostrukturen macht. Darüber hinaus kann das Rasterelektronenmikroskop HITACHI S 5000 mit einer Vielzahl von Stufen ausgestattet werden, einschließlich einer langen Hubabtaststufe für eine einfache und präzise Probenpositionierung sowie einer XYZ-motorisierten Bühne für die automatische Positionierung. Dies ermöglicht automatisierte Prozesse wie die Wiederholbarkeit des Scannens für die 3D-Tomographie-Bildgebung. Darüber hinaus eignet sich das optionale energiedispersive Röntgenspektroskopie-Modul hervorragend für die Elementaranalyse. Es bietet ultraschnelle Röntgenspektralkarten, ausgezeichnete spektrale Auflösung, Tiefendiskriminierung und zerstörungsfreie Elementaranalyse. Damit eignet es sich gut für die Materialwissenschaft und Halbleiteranalyse. Abschließend ist S-5000 Rasterelektronenmikroskop ein leistungsfähiges und vielseitiges mikroskopisches Bildgebungssystem. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder zu produzieren und ist mit fortschrittlichen Funktionen ausgestattet, die ihm ausgezeichnete Leistung in der Bildgebung, Analyse und Elementaranalyse geben.
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