Gebraucht HITACHI S-5000H #9163121 zu verkaufen

HITACHI S-5000H ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das verbesserte Bildgebungsgeschwindigkeit mit hochauflösenden Bildgebungsfähigkeiten kombiniert. Dieses SEM bietet eine Vielzahl von bildgebenden Modi, einschließlich hochauflösender Bildgebung, Hochrasterscanbildgebung und Hochgeschwindigkeitsbildgebung, um die Anforderungen einer Vielzahl von Anwendungen zu erfüllen. Es bietet auch eine einzigartige Fähigkeit, sekundäre elektronische Signale (SEs) abzubilden, die von der Elektronensäule gesammelt werden. Dank seiner fortschrittlichen analytischen Fähigkeiten ist es für eine breite Palette von Forschungsanwendungen geeignet, einschließlich der Charakterisierung von Materialien, Geräten und der Life-Science-Forschung. Dieses High-End-Instrument bietet eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen und Fähigkeiten, die eine überlegene Bildgebung und Analyse ermöglichen. Zu den Merkmalen gehören ein breites Spektrum an Probenstufenbewegungen (bis 50 mm/s mit einem maximalen Fahrbereich von 170 mm), ein offenes Plattform-Multiview-Optiksystem, eine fünfachsige hochauflösende Probenstufe und ein automatisierter Probenaustauschregler (ASEX). Es verwendet auch eine Feldemissionselektronenquelle, um die höchstmögliche Helligkeit und Auflösung für die Bildgebung bereitzustellen. HITACHI S 5000H verwendet proprietäre Bildkorrekturtechnologie namens Dynamic Space Warp Correction (DSWC), die die Aberrationen korrigiert, die durch die verschiedenen Linsenelemente verursacht werden, die die Elektronensäule bilden. Dies ermöglicht qualitativ hochwertige Bilder ohne Verzerrung. Darüber hinaus wurde der ASEX-Controller entwickelt, um Genauigkeit und Geschwindigkeit auf ein neues Niveau zu bringen, indem das System zwischen mehreren Proben mit einer Berührung wechseln kann. Es ermöglicht auch eine schnelle automatisierte Probenhandhabung mit wiederholbarer Probenausrichtung. S-5000 H ist auch mit einem integrierten Energiefilter für die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) ausgestattet. Diese Funktion ermöglicht die quantitative Analyse von Elementen auf Nanoebene, um die Materialzusammensetzung zu untersuchen und liefert unschätzbare Daten über Kristallstruktur und chemische Eigenschaften. Zusätzlich zu den oben genannten erweiterten Funktionen ist S 5000H mit einer breiten Palette von Bildgebungssoftware ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, das System mit Leichtigkeit zu bedienen. Bediener sind in der Lage, eine Vielzahl von Funktionen für die optimierte Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben zu steuern. Es bietet auch eine Reihe von analytischen Optionen wie automatisiertes Scannen für bildgebende oder analytische Messungen, automatisierte Oberflächenbildgebung und automatisierte Dickenmessung. Insgesamt bietet S-5000H ein hervorragendes Maß an Leistung, Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit, das für ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop erforderlich ist. Dank der verbesserten bildgebenden und automatisierten Funktionen eignet sich HITACHI S-5000 H ideal für eine Vielzahl von Anwendungen von der Material- und Geräteforschung bis zur Life-Science-Forschung.