Gebraucht HITACHI S-520 #187760 zu verkaufen

HITACHI S-520 Scanning Electron Microscope (SEM) ist eines der fortschrittlichsten bildgebenden Werkzeuge, das in der Oberflächen- und Materialanalyse verwendet wird. Es kann bis zu 230.000 Mal vergrößern und bietet eine breite Palette von nützlichen erweiterten Funktionen. Diese Art der Mikroskopie verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um ein sehr detailliertes Bild zu erzeugen, das innere Strukturen von Proben bis zu einem Submikronspiegel aufzeigen kann. Das System verfügt über eine Vielzahl von direkten Detektoroptionen, darunter einen energiedispersiven Röntgendetektor (EDX) für die Elementaranalyse, einen Sekundärelektronendetektor für die Bildgebung, einen Elektronenübertragungsdetektor für die rückgestreute Elektronenbildung und einen speziellen elektronendispersiven Röntgendetektor (EDX X ector) für die Teilchenanalyse. S-520 kann auch für viele Materialien wie Metalle, Keramik, Verbundwerkstoffe, Halbleiter, Nanostrukturen und biologische Proben verwendet werden. Die rückgestreuten Elektronen- (BSE-) und Sekundärelektronendetektoren (SE) können zur Detektion von Oberflächentopographie oder Defektmapping verwendet werden, während der EDX-Detektor es dem Benutzer ermöglicht, elementare Daten zu erfassen und eine chemische Analyse der Probe durchzuführen. Die Kammer der HITACHI S-520 wird auf einem hohen Vakuum gehalten, um die Kontamination der Probe zu reduzieren und die Klarheit des beobachteten Bildes zu verbessern. Es ist auch mit leistungsstarken Funktionen wie Auto-Neigung und Hochgeschwindigkeits-Autokollimation ausgestattet, so dass die Probenorientierung angepasst werden kann, um eine optimale Bildgebung zu erhalten. S-520 unterstützt sowohl das manuelle als auch das automatisierte Abtasten von Proben und die Bildgebung und verbessert so seine Fähigkeit, große Mengen hochauflösender Bilder in einem begrenzten Zeitraum zu erhalten. Das System ist kompakt und sehr anpassbar, mit einer breiten Palette von optionalem Zubehör, wie einer Kühleinheit, einer Hochtemperaturstufe und einem Ladungsentferner. Die Softwareschnittstelle ist benutzerfreundlich und kann an die Anwendungsbedürfnisse des Anwenders angepasst werden. Insgesamt ist HITACHI S-520 Scanning Electron Microscope ein flexibles und hocheffizientes Bildgebungswerkzeug, mit dem Benutzer die innere Struktur verschiedener Materialien von Makro bis Mikro visualisieren und analysieren können. Seine hochauflösenden Fähigkeiten und sein breites Spektrum an fortschrittlichen Funktionen machen es zu einem idealen Instrument für eine Vielzahl wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen.