Gebraucht HITACHI S-5200 #293608981 zu verkaufen

HITACHI S-5200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um die Oberfläche von Proben unter verschiedenen Bedingungen mit ausgezeichneter Auflösung zu beobachten. Mit einer Vielzahl von Detektoren bietet HITACHI S 5200 eine Reihe von Scanfunktionen, die es Forschern ermöglichen, präzise Informationen über die Oberflächenstrukturen der Probe zu erhalten. Das Mikroskop ist mit einer Rasterelektronenquelle ausgestattet, die Elektronen mit einer maximalen Energie von 15 keV erzeugen kann. Das SEM ist auch mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, die verschiedene Arten der Bildgebung ermöglichen, einschließlich sekundärer Elektronenbildgebung und rückgestreuter Elektronenbildgebung. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine leistungsstarke Computersteuerung, die eine präzise Abtastung ermöglicht, sowie einen automatischen Sampler zur präzisen Probenpositionierung. S-5200 ist mit einer Vielzahl von Techniken für die Probenoberflächenanalyse ausgestattet, darunter Röntgenmikroanalyse, Elektronenrückstreubeugung (EBSD), energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Photoelektronenspektroskopie (PES). Diese Techniken ermöglichen es Forschern, die elementare Zusammensetzung der Probe zu identifizieren und Einblicke in die Struktur und Eigenschaften des Materials zu erhalten. Darüber hinaus ist das Mikroskop in der Lage, bei Sub-Nanometer-Auflösungen abzubilden, was eine klare Visualisierung von atomaren Merkmalen ermöglicht. S 5200 enthält eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, wie variable Temperatur und variable Druckregelung, um eine Reihe von kontrollierten Umgebungen bereitzustellen, unter denen die Probe beobachtet werden kann. Darüber hinaus ermöglicht das Mikroskop Benutzern die Einstellung der Punktgröße des Elektronenstrahls mit seiner Strahlflecksteuerung und bietet präzise Abbildungs- und Datenanalysefunktionen. Abschließend ist HITACHI S-5200 ein unglaublich leistungsfähiges Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Oberflächenanalyseaufgaben entwickelt wurde. Mithilfe der leistungsstarken Scan- und Bildgebungssysteme des Mikroskops können Forscher genaue Informationen über die elementare Zusammensetzung und Struktur einer Vielzahl von Proben erhalten. Das Mikroskop verfügt zudem über ein gut konzipiertes Steuerungssystem, das eine präzise Probenpositionierung sowie eine Vielzahl von Bedingungen und Kontrollen für detailliertere Untersuchungen ermöglicht.