Gebraucht HITACHI S-5200 #293629673 zu verkaufen

HITACHI S-5200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien und Oberflächen sowohl in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen. Es bietet hochauflösende Bildgebung, so dass es ideal für Halbleiterbauelementanalyse, Fehleranalyse, Materialanalyse und Mikrostrukturbildgebung ist. HITACHI S 5200 ist eines der leistungsstärksten SEMs auf dem Markt und bietet eine Reihe von Scan- und Analysefunktionen wie Bühnenorientierung und Strahleinstellpositionen, Weitfeldbildgebung und hochauflösende Bildgebung von Oberflächenmerkmalen. Es ist mit einem bildgebenden Detektor ausgestattet, der sowohl sekundäre als auch rückgestreute Elektronen erfasst, um detaillierte Bilder der Probenoberfläche zu erzeugen. S-5200 verfügt zudem über eine hochgenaue Stufe, die sowohl manuelle X-Y- als auch automatisierte X-Y-Scanmodi steuern kann. Die Bühne bietet eine breite Palette von Fahrbahnen, um eine genaue Positionierung zu gewährleisten, einschließlich kontinuierlicher kontinuierlicher linearer und kreisförmiger Muster, Schritt- und Wiederhol- und Punktscannen sowie Mehrpunktscannen. Zusätzlich ist S 5200 mit einem automatischen Wafer-Ladesystem ausgestattet, das das automatische Be- und Entladen von Wafern bis zu einer Dicke von 25 mm ermöglicht. Zur Analyse ist HITACHI S-5200 mit einer Reihe von energiedispersiven Röntgenstrahl- (EDX) und Wellenlängen-dispersiven Röntgenstrahl- (WDX) Detektoren ausgestattet, die die chemische Zusammensetzung verschiedener Elemente innerhalb der Probe messen. Ein zusätzlicher Entdecker der Elektronenergieverlustspektroskopie (EELS) kann für die chemische Zusammensetzungsanalyse verwendet werden, das Maß des chemischen Abbindens zwischen Elementen berücksichtigend. HITACHI S 5200 ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, ideal für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen. Seine kombinierten bildgebenden und analytischen Fähigkeiten ermöglichen die Bildanalyse einer Vielzahl von Proben und sein automatisches Wafer-Ladesystem ermöglicht eine schnelle und einfache Probenbearbeitung.