Gebraucht HITACHI S-5200 #293653433 zu verkaufen

HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochauflösendes Forschungswerkzeug zur Bildgebung und Analyse von Proben auf Submikrometerebene. Es ist beliebt in Bereichen wie Materialwissenschaften, Nanowissenschaften und Biowissenschaften. HITACHI S 5200 Scanning Electron Microscope arbeitet mit Elektronen anstelle von Licht, um Oberflächentopographie und mikroskopische Strukturen bei sehr hohen Vergrößerungen weiter zu untersuchen. Ein Elektronenstrahl, der von einer Thermo- oder Feldemissionsquelle erzeugt wird, wird dann in einer Schwungbewegung, einem sogenannten Rastermuster, über die Probenoberfläche abgetastet. Bei Wechselwirkung mit der Oberfläche werden die Elektronen gestreut, wodurch die dem Material zugeordneten charakteristischen Signale, wie Sekundärelektronen und rückgestreute Elektronen, detektiert werden können. Der Hauptvorteil von S-5200 ist sein fortschrittliches optisches System, das optimiert wurde, um eine präzise hochauflösende Bildgebung zu ermöglichen. Es ist mit einer ultra-hohen Helligkeit Cold Field Emission Gun (CFEG) Elektronenquelle und einem fortschrittlichen Linsensystem ausgestattet, um die klarsten Bilder mit ausgezeichneter Qualität zu erzeugen. Der Elektronenstrahl hat eine einstellbare 2-nm-Punktgröße, die für Bildklarheit und Empfindlichkeit sorgt, während die schnelle Leistung der Ablenker Strahlbewegungsartefakte minimiert und so die Bildqualität erhöht. Das eingebaute Feature von S 5200, MyTopography genannt, gewährleistet eine genaue und präzise Messung von Topographie- und Oberflächenrauhigkeitspunkten bei gleichmäßiger Submikronauflösung. Es bietet auch verschiedene Möglichkeiten von einfachen Mikrographen bis zur Dual-Beam-Bildgebung, zusammen mit den fortschrittlichsten Mikroanalysetechniken zur qualitativen und quantitativen Materialcharakterisierung. Darüber hinaus verfügt HITACHI S-5200 über ein breites Spektrum an Probenkapazitäten, darunter einen kryotomographischen In-situ-Halter und eine Neigungs-/Drehprobenkammer, die ideal zur Untersuchung dreidimensionaler Strukturen geeignet ist. Darüber hinaus optimiert die optionale „Smart Beam“ -Technologie die Strahlform und erweitert die Ladungsminimierungsfähigkeit und macht HITACHI S 5200 zu einer ausgezeichneten Wahl für spektroskopische Anwendungen. Insgesamt ist S-5200 Rasterelektronenmikroskop ein leistungsfähiges Werkzeug zur Analyse, weiteren Untersuchung und Bildoberflächentopographie. Mit seiner hervorragenden Leistung und außergewöhnlichen Bildgebungsfähigkeit bietet dieses Modell den Forschern die zuverlässigste Auflösung und ist somit ideal für den Einsatz in der Forschung in vielen verschiedenen wissenschaftlichen Bereichen.