Gebraucht HITACHI S-5200 #293778227 zu verkaufen
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ID: 293778227
Scanning Electron Microscope (SEM)
Electron source: Cold-FEG
Acceleration voltage: 500 V to 30 kV
Guaranteed resolution: 0.5 nm to 30 kV
Magnification range:
LM 60x to 10000x
HM 800x to 2000000x
(2) Detectors:
SE
T-BSE
Stage:
X: ±3.5 mm
Y: ±2 mm
Z: ±0.3 mm
Tilt: ±40°
Specimen:
Flat: 5 x 9.5 x 3.5 x 4 x 9 x 4 mm
Phase: 2 x 8 x 5 mm.
HITACHI S-5200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse der Oberfläche von festen Objekten verwendet wird. Es ist eine Art Elektronenmikroskop, das einen fokussierten Elektronenstrahl verwendet, um ein Bild des Objekts zu erzeugen, das es abbildet und analysiert. HITACHI S 5200 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das mit einem innovativen Design ausgestattet ist, das eine einfachere Bedienung und Wartung ermöglicht. Das SEM arbeitet mit einer Elektronenquelle, um Elektronen auf die Oberfläche der Probe zu fokussieren. Der Elektronenstrahl scannt in einem rasterartigen Muster über die Oberfläche, und die Elektronen, die mit der Probe interagieren, werden in Form eines Bildes detektiert und aufgezeichnet. S-5200 verfügt über eine sehr hohe Auflösung von bis zu 5 Nanometern, ideal für die Untersuchung der Oberfläche von kleinen Partikeln und die Analyse der feinen Details der Probenoberflächen. Das Mikroskop kann entweder in einem Sekundärelektronen-Abbildungsmodus oder in einem Rückstreuelektronen-Abbildungsmodus betrieben werden. Im Sekundärelektronen-Abbildungsmodus werden Elektronen nach Wechselwirkung mit der Probe in einem flachen Winkel dispergiert und das Bild durch Detektion der Sekundärelektronen beim Auftreffen auf den Detektor erzeugt. Der Rückstreuelektronen-Abbildungsmodus bildet ein Silhouettenbild der Probe durch Detektion der Elektronen, die von der Probe weg und zurück zum Detektor gestreut werden. S 5200 bietet auch eine Vielzahl von anspruchsvollen Objektiven und Detektoren für den Benutzer. Im SEM stehen zwei verschiedene Detektoren zur Verfügung; der Everhart-Thornley Detektor und der In-Objektiv Detektor. Der Everhart-Thornley-Detektor ist in der Lage, sowohl sekundäre als auch rückgestreute Elektronen aus der Probe zu detektieren. Der In-Linsen-Detektor ist in der Lage, unelastisch gestreute Elektronen aus der Probe zu detektieren. HITACHI S-5200 verfügt über eine Vakuumkammer zur Schaffung der notwendigen Mikrovakuumumgebung für den störungsfreien Einsatz des Elektronenstrahls. Die Kammer ist für einen Mindestdruck von 1x10-6 Pa ausgelegt, um sicherzustellen, dass die Probe vor äußeren Verschmutzungen geschützt ist. Die Kammer ist mit mehreren Anschlüssen ausgestattet, die verwendet werden, um Restgas zu evakuieren und die Installation einer Vielzahl von Zubehör zum SEM zu ermöglichen. HITACHI S 5200 ist ein ausgezeichnetes Instrument für detaillierte und hochauflösende SEM-Bildgebung und -analyse. Dank seines innovativen Designs und seines benutzerfreundlichen Betriebssystems ist es gut für eine Vielzahl fortschrittlicher Forschungsanwendungen geeignet.
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