Gebraucht HITACHI S-5200 #9214085 zu verkaufen
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ID: 9214085
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2000
Field emission scanning electron microscope (FE SEM), 12"
Standard resolution: 0.5 nm at 30 kV / 1.8 nm at 1 kV
Extraction voltage: 0 V - 6.5 kV
Accelerating voltage: 0.5 V - 30 kV
Magnification: 800x - 2,000,000x (High) / 60x - 10,000x (Low)
2000 vintage.
HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Benchtop-Rasterelektronenmikroskop, das einen energiedispersiven Röntgenanalysator (EDS) zur Analyse der Probenzusammensetzung verwendet. Es hat eine breite Palette von Anwendungen in der Industrie, wie zum Beispiel für die Materialanalyse, metallurgische Mikrostrukturanalyse, biologische Probenuntersuchung und Fehleranalyse. Das Gerät ist mit einer monochromatischen, hochauflösenden Elektronensäule, einer Feldemissionskanone (FEG) für die hochauflösende Bildgebung und einer Abtaststufe ausgestattet, die ein Bühnenscannen und Kippen von 0-45 Grad ermöglicht. Es kann im Scan- und/oder Inanalysemodus betrieben werden. HITACHI S 5200 ist in der Lage, qualitativ hochwertige Bilder mit einem Vergrößerungsbereich von 0,2 bis 200.000 Mal der ursprünglichen Größe zu produzieren. Das FEG verfügt über ein Vakuumsystem, das einen Druck von 10-6 Torr aufrechterhält, so dass der Elektronenstrahl bei niedriger Beschleunigungsspannung fokussiert und stabil ist. Sein hochauflösendes Scannen erzeugt hochwertige Bilder und erleichtert die Erfassung genauer topographischer Informationen jeder Struktur. Das Gerät ist außerdem mit einer EDS-Maschine ausgestattet, die mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) Elemente in einer Probe analysiert. Es verfügt über eine ausgeklügelte Hardwarearchitektur, die sowohl eine schnelle als auch zuverlässige Datenerfassung ermöglicht. Es kann minutengenaue Signale aufnehmen und erzeugt äußerst zuverlässige und präzise Elementarzusammensetzungen. Dies ermöglicht eine genauere Analyse und Interpretation der Zusammensetzung einer Probe. Außerdem hat S-5200 sekundäres Elektron, backscattered und Scan-Übertragungsbildaufbereitungsfähigkeiten, die das bessere Verstehen von verschiedenen Kunsterzeugnissen und Beispieltopologie bieten. Die digitale Hochgeschwindigkeitsbildverarbeitung ermöglicht zudem eine schnellere Bedienung und Analyse. Zusammenfassend ist S 5200 Scanning Electron Microscope ein leistungsstarkes, vielseitiges und genaues Werkzeug, das hochauflösende Bilder erzeugt und eine detaillierte Analyse ermöglicht. Es verwendet ein FEG- und EDS-Asset, um genaue Messungen und Datenerfassung zu ermöglichen, und bietet eine höhere Bildgebung und Quantifizierung.
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