Gebraucht HITACHI S-5200 #9236135 zu verkaufen
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ID: 9236135
Weinlese: 2003
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Resolution:
0.5nm (Accelerating voltage 30kV), Sample height: 0.5mm
1.8nm (Accelerating voltage 1kV), Sample height: 1.5mm
Magnification:
High magnification mode: ~800 x 2,000,000
Low magnification mode: ~60 x 10,000
Electric gun type: Cold cathode field emission electric gun
Extraction voltage (Vext): 0 ~ 6.5kV
Acceleration voltage: 0.5 ~ 30kV
Lens: 3-Stage electromagnetic lens reduction system
Objective lens aperture: Variable aperture
Astigmatic correction: Electromagnetic method
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection system
Sample fine movement apparatus:
X: +/- 3.5mm
Y: +/- 2mm
Z: +/- 0.3mm
T: +/- 40°
2003 vintage.
HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes bildgebendes Instrument zur Abbildung der Oberfläche von Proben im Atom- oder Nanometermaßstab. Dieses Mikroskop kombiniert hochauflösende Bildgebung mit schnellen Akquisitionsraten und ist somit ideal für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. Seine primäre bildgebende Technik verwendet einen Rasterelektronenstrahl und sammelt Sekundärelektronen, die von der Probe emittiert werden, um ein Bild zu bilden. Sekundärelektronen können mit beschleunigten Spannungen von bis zu 30 kV gesammelt werden, was die Beobachtung von Feinflächenmerkmalen von bis zu 10 nm ermöglicht. HITACHI S 5200 ist in der Lage, eine Reihe von Proben abzubilden, einschließlich biologischer und anorganischer Proben unter trockenen oder nassen Bedingungen. Das Gerät umfasst auch Lichtelemente-Detektion und ptychographische Bildgebungsfähigkeit sowie eingebaute Ionenstrahl-Fräsmöglichkeiten für Massenproben. Es verfügt über eine intuitive Steuerung mit einer grafischen Benutzeroberfläche. Vergrößerungen von bis zu xx, xxx können erreicht werden und eine Auflösung von besser als 0.1nm. Zubehör wie eine Reihe von Stufen, Goniometer und Umweltzellen stehen ebenfalls zur Verfügung, um die Analyse von Proben zu unterstützen. Die Einheit verfügt über einen eingebauten energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektor, der die Analyse der Elementverteilung in der Probe ermöglicht. Vom EDS-Detektor gesammelte Bilder werden mit einem Elektronenbild zu einer kombinierten elementaren Verteilerkarte kombiniert. Diese Fähigkeit macht S-5200 gut für bildgebende Anwendungen in Bereichen wie Materialwissenschaft und Nanotechnologie geeignet. S 5200 umfasst auch integrierte digitale Videoausgabefunktionen zur Anzeige von Live-Bildern oder aufgenommenen Bildern auf externen Monitoren. Diese Funktion ist nützlich für den Austausch von Bildern mit großen Gruppen von Menschen. Software wird zur Verfügung gestellt, damit Benutzer Proben mit Leichtigkeit abbilden und analysieren können. Es umfasst Funktionen wie Echtzeit-Verarbeitung und Messungen. Abschließend bietet HITACHI S-5200 Scanning Electron Microscope beispiellose Bildgebungsfähigkeiten auf der Nanometerskala. Es verfügt über eine Reihe von Funktionen, die es für eine breite Palette von Forschungsanwendungen nützlich machen und ist hochautomatisiert und benutzerfreundlich. Die Kombination aus bildgebenden und analytischen Funktionen macht diese Maschine zu einem der leistungsstärksten Instrumente, die es heute auf dem Markt gibt.
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