Gebraucht HITACHI S-5200 #9309409 zu verkaufen

Das HITACHI S-5200 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochauflösendes bildgebendes Instrument zur Analyse physikalischer und elektrischer Eigenschaften von Halbleiter- und anderen Materialien. Mit seiner fortschrittlichen Feldemissionstechnologie und dem größeren als üblichen Bühnenbereich eignet sich dieses Modell speziell für Fehleranalysen, 3D-Röntgenaufnahmen und Fehlerinspektionen. HITACHI S 5200 ist in der Lage, bei einer Vielzahl von Temperaturen und staubdichten Bedingungen zu arbeiten, um verschiedene Substrate und Probengrößen aufzunehmen. Seine ausgezeichnete Auflösung, kombiniert mit seiner hohen Abtastgeschwindigkeit und 5KV-30KV variablen beschleunigten Spannung, macht es für die schnelle Charakterisierung und Analyse von Proben bis hin zur Nanometerskala geeignet. S-5200 ist ein wesentliches Instrument zur Bestimmung von Probenmerkmalen wie Morphologie, Zusammensetzung und Verteilungsmuster. Die breite Palette integrierter Modi zur Kontrast- und Auflösungsverbesserung erleichtert die Aufnahme maßgenauer Bilder und Spektren, die Informationen über die physikalischen und elektrischen Eigenschaften der Probe enthalten. S 5200 ist mit einem Hybrid Detector System (HDS) ausgestattet, das Benutzern beispiellose Kontrolle über die Bildhelligkeit und den Kontrast gibt. Es verfügt auch über dedizierte Software für die Planung und Durchführung von Experimenten, so dass Benutzer die Parameter ihres Experiments für eine optimale Leistung ohne manuelle Eingriffe anpassen können. Neben dem optischen Mikroskop umfasst HITACHI S-5200 auch ein IEA-Programm (Image Education and Analysis) zur Erleichterung der Datenerfassung und -analyse. Mit seinen einstellbaren Auflösungs- und Empfindlichkeitseinstellungen können Benutzer verschiedene Funktionen in ihren Proben identifizieren und mit genauer Präzision quantifizieren, die bildübergreifend konsistent ist. HITACHI S 5200 unterstützt eine Vielzahl automatisierter Funktionen, um die Erfassung und Verarbeitung von Bildern weiter zu erleichtern. Dazu gehören automatische Zentrierung, automatische Nähte und automatische Fokussierung. Darüber hinaus ermöglicht das große Sichtfeld, gepaart mit seinen hochauflösenden Fähigkeiten, dem Anwender, große Bereiche der Probe mit Klarheit und Detail abzubilden. Insgesamt ist S-5200 Rasterelektronenmikroskop ein leistungsfähiges Werkzeug, um eine Vielzahl von Proben mit Genauigkeit und Präzision zu charakterisieren und zu analysieren. Seine vielseitigen Funktionen und hochintensiven Bildgebungsfunktionen ermöglichen es Benutzern, die nanoskaligen Details ihrer Proben vertrauensvoll zu erkunden.