Gebraucht HITACHI S-5200 #9394910 zu verkaufen

HITACHI S-5200
ID: 9394910
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-5200 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug zur Untersuchung von Probenoberflächen mit hoher Genauigkeit. HITACHI S 5200 ist ein integriertes Rasterelektronenmikroskop, das eine optimale Kombination aus Leistung und Erschwinglichkeit für eine Reihe grundlegender und fortschrittlicher Anwendungen bietet, einschließlich Bildgebung, energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und automatisches Bildnähten. S-5200 bietet eine Auswahl von zwei sekundären Elektronendetektoren, um SEM-Bilder in verschiedenen Tiefen und Auflösungen bereitzustellen. Der gleiche Detektor kann für Sekundärelektronen-, Rückstreuelektronen- und Kathodenlumineszenz-Bildgebung sowie für Probentopographie- und Arbeitsabstandsmessmodi verwendet werden. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer EDS-Ausrüstung ausgestattet, die eine elementare Zusammensetzungsanalyse von Probenmaterialien ermöglicht. S 5200 erreicht hochauflösende Bildgebung mit einem neuen Hochspannungs-Elektronenkathoden-Design, das einen optimalen SEM-Betrieb ermöglicht. Eine Kaltkathodenquelle bietet eine Reihe von Vorteilen wie niedriges Stromaussterben, reduzierte Aufladung und Strahlstabilität. HITACHI S-5200 verfügt zudem über ein automatisches Pistolenkorrektursystem und eine benutzereinstellbare Fokusregelung mit hoher Genauigkeit. Dank seiner zweiachsigen Goniometerstufe verfügt HITACHI S 5200 über ein breites Spektrum an Neigungs- und Drehwinkeln zur Probenpositionierung und -beobachtung. Darüber hinaus bietet eine digitale XYZ-Bewegungssteuerung eine hohe Steifigkeit und genaue Schrittgrößen von 0,1 µm bis 0,5 µm. Die XYZ-Bewegungssteuerungsmaschine ist kompatibel mit HIMAC-automatischer Bildnahtsoftware, die größere Scanbereiche und großflächige Bildgebung von SEM-Proben ermöglicht. S-5200 umfasst auch eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI), die eine flexible parametrische Manipulation und automatisierte Optimierung des SEM-Bildes ermöglicht. Die GUI ermöglicht auch die Integration von Funktionen zur schnellen Bilderfassung und Analyse von Daten. Insgesamt bietet das S 5200 Rasterelektronenmikroskop eine umfassende Palette von bildgebenden und analytischen Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen in der Mikroskopie. Mit seinem robusten Design und seinen fortschrittlichen Funktionen ist HITACHI S-5200 eine ausgezeichnete Wahl für eine Vielzahl von SEM-Anwendungen, von der grundlegenden Bildgebung bis zur fortschrittlichen Probenanalyse.
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