Gebraucht HITACHI S-5200 #9410826 zu verkaufen

ID: 9410826
Scanning Electron Microscope (SEM) Missing parts.
HITACHI S-5200 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsfähiges Analysewerkzeug, das seit vielen Jahren in Laboren auf der ganzen Welt eingesetzt wird. Es wird für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt, von der Messung der Benetzungseigenschaften eines Materials bis zur Charakterisierung von Defekten in integrierten Schaltungen. HITACHI S 5200 ist eine verbesserte Version des ursprünglichen HITACHI S-2-Modells, das 1967 erstmals veröffentlicht wurde. Es verfügt über ein breiteres Spektrum an Funktionen und Funktionen, darunter: eine leistungsstarke 5kV Elektronenquelle, ein großes Gesichtsfeldmikroskop, eine hochauflösende bildgebende Ausrüstung und ein Auto-Stig-System. Die 5kV Elektronenquelle von S-5200 ist in der Lage, einen maximalen Strahlstrom von bis zu 2µA zu erzeugen, während ihr weites Sichtfeld die Abbildung ganzer Probenmosaike bis zu 3 cm2 ermöglicht. Die hochauflösende Bildgebungseinheit von S 5200 verfügt über eine Auflösung von 1-2nm, dynamische Kontrast- und Formerkennungsfunktionen sowie Rückstreuelektronen (BSE) zur Bildgebung und Rastermikroskopie der Schnecke (SAM). Seine Auto-Stig-Maschine ermöglicht die automatische Analyse von Vergrößerungsbildern und Stigmen sowie die Fähigkeit, Abstände zwischen Objekten zu messen. HITACHI S-5200 eignet sich für eine Vielzahl von Aufgaben, von der Charakterisierung von Oberflächen bis zur Überwachung nanoskaliger Prozesse und Defekte. Es kann verwendet werden, um Partikel in der Größenordnung von 1-10nm und darunter zu detektieren und zu inspizieren sowie extrem dünne Filme zu messen. HITACHI S 5200 ist für die Oberflächenchemie-Analyse mit Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und Auger-Elektronenspektroskopie (AES) ausgestattet. Zusätzlich ermöglicht das Elektronenenergieverlustspektrometer (EELS) des S-5200 die Tiefenprofilierung von Materialproben. S 5200 ist ein hochzuverlässiges und präzises Rasterelektronenmikroskop, das für ein breites Spektrum von Forschungsanwendungen eingesetzt werden kann. Es verfügt über die Fähigkeit, Merkmale im nanoskaligen Bereich zu erkennen und oberflächenchemische Analysen durchzuführen sowie extrem dünne Filme und Tiefenprofilmaterialien zu messen. HITACHI S-5200 ist eine ideale Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure, die ein leistungsstarkes und genaues Analyseinstrument benötigen.
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