Gebraucht HITACHI S-530 #9038452 zu verkaufen

HITACHI S-530 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das von HITACHI Ltd. für den Einsatz in einer Vielzahl wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen entwickelt wurde. Dieses SEM ist mit einer hochauflösenden Kaltfeld-Emissionsspitze mit einer Punktgröße von 5,2 nm und einem Arbeitsabstand von 6,5 mm ausgestattet. Damit können Forscher und Wirtschaftsingenieure Proben mit Sub-Nanometer-Auflösung analysieren. HITACHI S 530 kann für eine Vielzahl von Scananwendungen verwendet werden, einschließlich Oberflächenanalyse, 3D-Bildgebung, Nanostrukturen und Schaltungsanalyse. S-530 ist mit sphärischen Aberrationskorrektoren (CsCsCs) ausgestattet, um sphärische Aberrationen zu reduzieren und die Bildqualität zu optimieren. Dies erhöht die Auflösung und den Bildkontrast des SEM. S 530 verwendet sekundäre Elektronen- (SE-) und sekundäre Ionen- (SI-) Detektion, um sekundäre Elektronen, Ionen, Coin-Imaging® -Modus zu detektieren, um SE- und SI-detektierte Bilder und Energie-gefilterte Imaging™ zu korrelieren, um mehrere Elemente in einer Analyse zu detektieren. HITACHI S-530 verfügt über eine Hochvakuumkammer mit einem Basisdruck von 1,3 × 10-4 Torr bei einer maximalen Beschleunigungsspannung von 30 kV, eine Hochvolt-Stromversorgung von 12 kV, eine Gaschromatographen-Vakuumausrüstung, einen Umwelt- und Vakuumregler und eine Kippstufe. Dieses SEM beinhaltet auch ein Detektorsystem für SE- und SI-Informationen sowie rückgestreute Elektronenbildgebung und Auger-Elektronenbildgebung. In Bezug auf den Betrieb verfügt HITACHI S 530 über eine korrosionsbeständige Kammerbeschichtung, eine automatisierte Probenwechslereinheit, einen rauscharmen Elektronenstrahl, eine breite Palette von Vorscan- und Scaneinstellungen, erweiterte Videoausschnitte und automatische Helligkeits-/Kontrasteinstellung. Es enthält auch ein Farbdisplay mit einem 19-Zoll-Monitor oder ein optionales Multi-Eye-Display mit Split-Screen-Funktion. S-530 hat auch eine Vielzahl von Softwarefunktionen, wie HITACHI SMART Score Software-Maschine zur Analyse von Schaltungen und Bewertung der Geräteleistung. Diese Software wurde entwickelt, um SEM-Rohdaten zu analysieren und zu analysieren und Halbleitertestchips mit gespeicherten Bibliotheksreferenzen zu vergleichen. S 530 ist auch mit einer Vielzahl von Analyse-Softwarepaketen kompatibel, wie SE Analysis EXscan und der Quantum Autotracking Autoscanner. Abschließend ist das HITACHI S-530 Rasterelektronenmikroskop ein fortschrittliches SEM, das Anwendern eine Sub-Nanometer-Auflösung für die Probenanalyse bietet. Die CsCsCs Korrektoren, Gaschromatographen-Vakuumwerkzeug, Farbdisplay, Softwarefunktionen und andere Funktionen machen HITACHI S 530 zu einer idealen Wahl für Anwendungen von der Oberflächenanalyse bis zur Schaltkreisanalyse.