Gebraucht HITACHI S-5500 #293589666 zu verkaufen

HITACHI S-5500
ID: 293589666
Weinlese: 2006
Scanning Electron Microscopes (SEM) 2006 vintage.
HITACHI S-5500 ist ein spezielles Rasterelektronenmikroskop (SEM) für eine Vielzahl von materialwissenschaftlichen Anwendungen. Es zeigt einen sekundären Hochleistungselektronentdecker, einen Doppelrückstreuungsentdecker und eine neue Autofokusausrüstung, die Forschern ermöglicht, hochauflösende Bilder zu gewinnen. Der sekundäre Hochleistungselektronentdecker von 5500 des HITACHI S ist dazu fähig, schnelle Scanbilder an einer hohen Auflösung 1nm zu erzeugen. So können Forscher feine Details in ihren Proben wie Korngrenzen, Facetten und anderen Oberflächenmerkmalen visualisieren. Der Sekundärelektronendetektor erhöht die Empfindlichkeit des Systems gegenüber Standarddetektoren um das bis zu 1000-fache. S-5500 verfügt auch über einen Dual-Backscatter-Detektor, der sowohl Sekundär- als auch Rückstreuelektronen gleichzeitig erfassen kann. So können Anwender aus ihren Proben Zusammensetzungsdaten generieren und die physikalischen und chemischen Eigenschaften ihrer Probe beobachten. Der Rückstreudetektor ist mit einer Energiefiltereinheit ausgestattet, die dazu beiträgt, detaillierte Informationen über die elementare Zusammensetzung der Probe zu erhalten. S 5500 wurde ebenfalls mit einer neuen Autofokusmaschine ausgestattet. Dieses Tool hilft, die Schärfe und Klarheit der Bilder zu erhalten, indem es alle auftretenden Fokussierungsprobleme automatisch korrigiert. Diese Ressource eignet sich besonders zum Scannen von Proben mit unebenen Oberflächen wie Böden und Pulvern. Schließlich verfügt HITACHI S-5500 über einen verbesserten Beobachtungsmodus. Dieses neu entwickelte Feature umfasst ein Autoimage-Stabilisierungsmodell und eine Geräuschreduziereinrichtung. Diese Technologien helfen, die Genauigkeit der Bilder zu verbessern, indem sie den Rauschpegel reduzieren und die Helligkeit und den Kontrast der Bilder optimieren. HITACHI S 5500 ist ein vielseitiges Scanning Electron Microscope (SEM) System, das sich für viele materialwissenschaftliche Anwendungen eignet. Es zeigt einen sekundären Hochleistungselektronentdecker, einen Doppelrückstreuungsentdecker, eine neue Autofokuseinheit und eine erhöhte Beobachtungsweise. Alle diese Funktionen kombinieren, um S-5500 zu einem leistungsfähigen bildgebenden Werkzeug zu machen, das detaillierte Informationen über die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Vielzahl von Materialien liefern kann.
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