Gebraucht HITACHI S-5500 #9194484 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9194484
Weinlese: 2009
Scanning electron microscope (SEM)
Secondary electron image resolution:
0.4 nm (30 kV, Sample height = 1.0 mm)
1.6 nm (1 kV, Sample height = 2.0 mm)
Accelerating voltage: 0.5 - 30kV
Magnification:
LM Mode: 60 - 10000x
HM Mode: 800 - 2000000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission electron source
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction system
Objective lens: Variable type
Stigmator coil: Octopole electromagnetic system
Scanning coil:
HM Mode: 2-Stage electromagnetic deflection
LM Mode: 1-Stage electromagnetic deflection
Beam blanking:
Electrostatic type: Synchronized with scanning coil
Electromagnetic type: Image freezing
Specimen stage:
Stage: Side-entry goniometer stage
Stage traverse:
X: ±3.5 mm
Y: ±2.0 mm
Z: ±0.3 mm
T: ±40°
Sample Size:
Bulk: 5.0 mm x 9.5 mm x 35 mmH (max)
Cross-section: 2.0 mm x 6.0 mm x 5.0 mmH (max)
Electrical image shift: ±5 ~m (Sample height=0 mm)
Detectors (Options):
Secondary electron detector
Upper backscattered electron detector
YAG Backscattered electron detector
BFIDF Duo-STEM detector
STEM Detector
Faraday cup
Energy dispersive X-ray detector
Display system
PC: Windows desktop PC
OS: Microsoft windows XP Professional
Monitor: 19 type LCD
Image display mode:
Full screen display: 1,280 x 960 pixels
Reduced area display: 640 x 480 pixels
Reduced area display: 320 x 240 pixels
Dual image display: 640 x 480 pixels x 2
Evacuation system
Auto evacuation:
Fully automatic pneumatic valve
Control system
Ultimate vacuum:
Electron gun chamber: <1 x 10^7 Pa
Specimen chamber: <7 x 10^5 Pa
Vacuum pumps:
Ion pump: 70 l/s x 1
Ion pump: 30 l/s x 1
Turbo molecular pump: 260 l/s x 1
Scroll type dry pump: x 1
Utility requirements:
Room temperature: 15 ~ 25°C
Humidity: 60% RH or less
Power: Single phase, ACIOO-240V ±10%, 4 kVA
Grounding: 100 ohms or less
Cooling water:
Flow: 0.6 - 1.0 l/min
Pressure: 50 - 100 kPa
Temperature: 10 - 20°C
Supply faucet: Rc 3/8 tapered female thread x 1
Drain port:
20 mm Diameter
Natural drain located on floor
2009 vintage.
HITACHI S-5500 Scanning Electron Microscope ist ein hochmodernes SEM für hochauflösende Bildgebung und Analyse. Seine fortschrittlichen Eigenschaften machen es zu einer idealen Option für eine breite Palette von Bildgebung und Analyse einschließlich Life Science, Materialwissenschaft und Umweltanalyse. HITACHI S 5500 verfügt über ein Hybrid-Scan-Gerät mit sekundären und rückgestreuten Elektronendetektoren sowie vier Elektroneneintrittsanschlüssen. Darüber hinaus verfügt es über ein hochmodernes elektronenoptisches System mit variabler Druckkammer, das einen Betrieb vom Vakuum bis zu hohen Luftdrücken ermöglicht. Die optische Einheit wurde entwickelt, um Aberrationen zu minimieren, was zu einer hohen Performance 5 nm Auflösung bei der Sekundärelektronenbildgebung und 3 nm Auflösung bei der Rückstreubildgebung führt. S-5500 ist für die Beobachtung und Analyse biologischer und hochauflösender Bildgebung weicher Materialien optimiert. Die Umweltkammer des Mikroskops eignet sich besonders zur Beobachtung von Zellkulturen, die eine Beobachtung von empfindlichem Material in einer Vielzahl von Abtastmodi wie Bildgebung mit niedrigem Kontrast, Trocknungsindizes und Bildgebung mit variablem Druck ermöglichen. Zur S 5500 gehört auch eine bordeigene Ionenstrahl-/Abscheidemaschine, die zur präzisen Probenvorbereitung und -beobachtung eingesetzt werden kann. Das Werkzeug ist in der Lage, hochpräzise Abbildungsergebnisse mit scharfen und feinen Details durch seine Fähigkeit zu erzeugen, Materialien auf der Probenoberfläche abzuscheiden. Immersive 3D-Mikroskopie ist auch mit HITACHI- S-5500 durch die Nutzung einer einzigartigen STED-Bildgebungsfunktion möglich. Dies ermöglicht verschiedene bildgebende Techniken wie Einzelmolekül-Fluoreszenz-Bildgebung, Nanometer-Skala-Bildgebung und dreidimensionale Tomographie. HITACHI S 5500 ist auch in der Lage, qualitativ hochwertige Rasterelektronenbeugungsmuster mit integriertem EBSD-Detektor zu erzeugen. Die resultierenden Muster können dann zur Auflösung von Kristallstrukturen und zur Vorhersage von Eigenschaften wie elastischem Modul, relativer Härte und Fehlerkonzentration verwendet werden. Daher ist S-5500 ein ideales Instrument zur Analyse von Nanostrukturen und Materialeigenschaften. S 5500 verfügt auch über ein Breitfeld-Bildverarbeitungsmaterial, das in der Lage ist, klare, hochauflösende Bilder mit geringem Rauschen zu erzeugen. Dies macht es zu einer idealen Wahl für die Beobachtung großer Exemplare, bei denen Detail von größter Bedeutung ist. Insgesamt erweitert HITACHI S-5500 Scanning Electron Microscope die Fähigkeiten und Anwendungen der Mikroskoptechnologie erheblich und ermöglicht die Analyse von Proben auf atomarer Ebene. Seine einzigartige Kombination von leistungssteigernden Funktionen macht es zu einer idealen Wahl für viele Bereiche der Wissenschaft und Industrie.
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