Gebraucht HITACHI S-5500 #9270956 zu verkaufen

HITACHI S-5500
ID: 9270956
Scanning Electron Microscope (SEM), 8"-12" 2005 vintage.
HITACHI S-5500 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine überlegene Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht. Dieses Gerät ist mit einer FOV-Optik ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, unterschiedliche Vergrößerungen und große Schärfentiefe zu erreichen. Es verwendet ein integriertes SEAD-Detektionssystem (Sekundärelektron und automatisierte Daten) und ist in der Lage, hochauflösende Bilder von einer Vielzahl von Proben mit außergewöhnlicher Genauigkeit zu erzeugen. Darüber hinaus verwendet HITACHI S 5500 auch eine Feldemissionskanone (FEG) -Quelle, die es dem Benutzer ermöglicht, eine tiefere Bildauflösung als andere EM-Systeme zu erhalten. Das Gerät verfügt über eine integrierte Messeinheit, die dem Benutzer eine Vielzahl von Datenpunkten zur Verfügung stellt, mit denen die Probe detailliert analysiert werden kann. Dazu gehören Informationen wie Oberflächengröße, Partikelgröße, Partikelform, Texturierung und Porosität. Es ist auch in der Lage, Topographie mit einer viel höheren Auflösung als die meisten anderen SEM-Systeme zu messen. So erhalten Anwender einen besseren Einblick in die Struktur ihrer Probe. Das Gerät wird von einem digitalen Videoprozessor gesteuert und ist mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI) ausgestattet, die die Datenanalyse, Bildansicht und Optimierung vereinfacht. S-5500 ist in der Lage, digitale Echtzeitbilder mit einer Bildschirmauflösung von bis zu 1024 x 768 Pixeln zu erzeugen. Darüber hinaus kann das Gerät elementare Analysedaten für Anwender erzeugen, um die Zusammensetzung ihrer Probe weiter zu untersuchen. Dadurch kann der Benutzer die Leistung, Energie und mineralische Zusammensetzung seiner Probe genau beurteilen. Das Gerät ist außerdem mit einer hochgeschwindigkeitsautomatischen Probenmechanisierungsmaschine ausgestattet, die hilft, Proben schnell auszutauschen und Verschmutzungen in der Elektronensäule zu beseitigen. Darüber hinaus ist das Tool in der Lage, sekundäre und rückgestreute Elektronenbilder (SSI/BSE) sowie computerisierte Tomographie (CT) zu erzeugen, um eine 3D-Visualisierung zu erhalten. Dieses vielseitige Asset ist mit den notwendigen Funktionen und Funktionen ausgestattet, damit Benutzer die detailliertesten Informationen aus ihren Beispielen erhalten können.
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