Gebraucht HITACHI S-570 #134826 zu verkaufen

HITACHI S-570 Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine voll ausgestattete, integrierte bildgebende Lösung. HITACHI S 570 verwendet eine Hochleistungs-Elektronensäule und einen digitalen Controller, der eine Reihe von Abbildungsmodi wie hochauflösende Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und die Fähigkeit zur Erfassung eines Bereichs von Ionensignalen ermöglicht. Dieses vielseitige SEM ist sowohl für den Einsatz in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen konzipiert und kann hochauflösende Bilder von kompromissloser Qualität erzeugen. S-570 ist mit einem Ultra-Hochleistungs-MSD (Multi-Step Detector) ausgestattet, der eine maximale Auflösung von 2,0 nm bietet. Diese überlegene Auflösung ermöglicht das Erkennen struktureller Details und die Identifikation von Oberflächenstrukturen. Darüber hinaus ist das Hochspannungsnetzteil in der Lage, einen Bereich von Hochspannungspegeln von 30kV bis 30 MV zu erzeugen, was einen hervorragenden Kontrast für eine effiziente Bildgebung bietet. S 570 ist auch mit einem zweistufigen Automatisierungssystem ausgestattet, das die gleichzeitige Einstellung von Beschleunigungsspannung, Spotgröße und Helligkeit ermöglicht. Dies ermöglicht eine verbesserte Flexibilität bei der Untersuchung von Proben, wobei klar definierte Interessenbereiche ideal beleuchtet werden und gleichzeitig die Gesamtbildstabilität erhalten bleibt. Das integrierte digitale Bildgebungssystem umfasst LCD-Anzeige, Bildanalyse und Bildverarbeitung. Funktionen wie Auto Size Zoom und Auto Frame Stabilizer bieten einzigartige Benutzerfreundlichkeit. Darüber hinaus ermöglicht ein Bildaufnahmemodus die Bildübertragung an eine Vielzahl von Zielen, einschließlich USB-Flash-Laufwerke und Digitalkameras. HITACHI- S-570 können mit einer Reihe von Zubehörteilen kombiniert werden, einschließlich Probenhalter, EDS-Detektoren und Mikroanalysatoren, Röntgendetektoren, Dual-Detektoren für SEM-Scanning und EDX-Analyse. Dieses Gerät stellt auch ein Pulszählerkennungssystem zur Verfügung, mit dem verschiedene Röntgensignale gleichzeitig detektiert werden können. HITACHI S 570 kommt auch mit einer Reihe von spezialisierten Software, die es Anwendern ermöglicht, detaillierte Analysen ihrer Proben zu erstellen. Zu diesen Softwareanwendungen gehören CADRA für die Konstruktion und Produktion von 3D-Ausrichtungen und Profilen sowie PartFinder für die computergestützte Teilekennung. Schließlich wird dieses überlegene SEM durch eine After-Sales-Service- und Support-Lösung unterstützt, die Ingenieuren und Technikern umfassende Hilfe, Beratung und Unterstützung bietet. Kurz gesagt, S-570 ist ein fortschrittliches, vollständig integriertes Rasterelektronenmikroskop mit außergewöhnlicher Bildqualität, Dual-Stage-Automatisierung und überlegenen digitalen Bildgebungsfunktionen. Mit seinem revolutionären MSD-Detektor, seiner hohen Auflösungsfähigkeit und dem Zubehörsortiment bietet S 570 Forschern und Ingenieuren hervorragende Leistung, Flexibilität und Zuverlässigkeit.