Gebraucht HITACHI S-570 #177900 zu verkaufen

HITACHI S-570 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sowohl für die hochauflösende Bildgebung als auch für die quantitative Analyse unterschiedlichster Proben entwickelt wurde. Die Ausrüstung zeichnet sich durch ausgezeichnete Bildqualität und hohe Durchsatzleistung aus, was eine schnellere Probenanalyse ermöglicht. Die Hauptkomponenten des Instruments bestehen aus einer Elektronenkanone, einer Kondensatorsäule, einem Elektronendetektor, einer Hochspannungsstromversorgung und ausgeklügelten Softwaresteuerungen. Eine Elektronenkanone erzeugt Elektronen, die von der Kondensatorsäule auf die Probe fokussiert werden. Diese fokussierten Elektronen interagieren mit der Probe und erzeugen Sekundärelektronen und Röntgenstrahlen, die dann vom Detektor detektiert werden. Da der Detektor Daten aus der Probe erfaßt, verarbeitet die vom Anwender gesteuerte Software zunächst und zeigt das resultierende Bild an, ermöglicht dann die Einstellung von Abbildungsparametern oder eine weitere Datenanalyse. Die Hochleistungs-Detektionstechnologie des Systems ermöglicht rauscharme Bilder mit einem verbesserten Photoelektronensignal. Funktionen wie diese, sowie der Energiefilter des Geräts, die drehbare Bühne und der intelligente Fokussierungsassistent bieten eine hervorragende Auflösung ohne Verlangsamung der Bildgebungsgeschwindigkeit. Die detektierte Signalstärke wird durch den Einsatz von EverHalo, einer neuen Funktion für HITACHI S 570, auf Basis einer zum Patent angemeldeten Kontraststeuerungstechnologie, die einen Hyperkontrastdetektionsprozess und eine digitale Bildverarbeitung zur Verbesserung der Bildtreue nutzt, weiter verbessert. Dies hilft, klare, kontrastreiche Bilder mit größerer Genauigkeit zu liefern und gleichzeitig chromatische Aberration aufgrund der Erkennungsgeometrie zu verhindern, wodurch Objekte mit hervorragendem Kontrast beobachtet werden können. Darüber hinaus ermöglicht die fortschrittliche Software-Suite des S-570 eine quantitative Analyse. Von der Elektronenenergieverlust-Spektroskopie (EELS) bis zur Elektronenrückstreuung (EBSD) ermöglicht die Maschine dem Anwender, schnell und einfach eine Vielzahl von Variablen zu messen, die bei der Probencharakterisierung unterstützt. Da vom Werkzeug höchste Leistung erwartet wird, ermöglichen die automatisierten Reinigungs- und Bühnenreinigungssysteme eine zuverlässige Experimentwiederholung und wiederholbare Leistung. S 570 Rasterelektronenmikroskop ist somit ein leistungsstarkes, vielseitiges Instrument, das hochauflösende bildgebende und quantitative Analysefunktionen in einem benutzerfreundlichen Paket bietet. Dies ermöglicht es Forschern, schnell und effizient ein besseres Verständnis ihrer Proben zu erlangen und ihre Forschungsziele zu fördern.