Gebraucht HITACHI S-570 #293592480 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 293592480
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 2.5 nm
Magnification: 20 to 100,000x, 12-100,000x
Filament: Pre-centered LaB6
Maximum beam current: 300 µA
Auto bias
Alignment: 2-Stage electromagnetic alignment
Lens: 3-Stage electromagnetic lenses
Stigmator coil: Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Objective: Movable aperture
Maximum specimen size: 150 mm
Specimen stub size: 6 mm
Ultra high resolution: 50 mm
Specimen exchange: Air leak
Motion range (Large stages):
X: 0-40 mm, 0-100 mm
Y: 0-40 mm, 0-50 mm
Z: 5-35 mm, 20-60 mm
Tilt: -20°-+90°, 0°-60°
Rotation: 360°
Power supply: 0.5-3 kV, 100 V / 3-30 kV, 1 kV.
Das HITACHI S-570 Rasterelektronenmikroskop (SEM) bietet herausragende Leistung und fortschrittliche Funktionen zur Unterstützung breiter materialwissenschaftlicher Forschungsanwendungen. HITACHI S 570 bietet die höchste Auflösung seiner Klasse mit einer Auflösung von 1,2 nm bei 30 mm Arbeitsabstand und einer Auflösung von bis zu 0,8 nm bei 6 mm Arbeitsabstand. Diese Fähigkeit ermöglicht die Abbildung einzelner Atome und Moleküle und ermöglicht die Untersuchung und Charakterisierung neuer Materialien und Nanostrukturen. S-570 Rasterelektronenmikroskop bietet auch eine Vielzahl von Detektorkonfigurationen. Dazu gehören Sekundärelektronendetektoren, rückgestreute Elektronendetektoren sowie eine Vielzahl von Probenahmesystemen einschließlich EDX-, EBSD- und SDD-Detektoren. Dadurch eignet sich S 570 gut für multidisziplinäre Anwendungen, von der Bildgebung und Analyse von Nanomaterialien bis hin zur Life-Sciences-Forschung. HITACHI S-570 profitiert von einem fortschrittlichen Elektronenoptik-Säulendesign. Dazu gehört auch eine fortschrittliche Kontaminationskontrolle, die für die hohe Bildauflösung von entscheidender Bedeutung ist. Darüber hinaus sorgt die mechanische Konstruktion der Säule dafür, dass das SEM im Betrieb in einer vollkommen stabilen Position bleibt, ohne dass es zu Driften oder Vibrationen kommt, die für SEM-Anwendungen, die eine hohe Genauigkeit erfordern, wesentlich sind. HITACHI S 570 ist ein flexibles und benutzerfreundliches Instrument. Seine Eigenschaften umfassen Bildanalysefunktionen, 4 Elektronenkanonen-Konfigurationen und programmierbare Vergrößerungssteuerung, die eine hohe Produktivität sowohl in routinemäßigen als auch in fortgeschrittenen SEM-Bildgebungsanwendungen ermöglicht. Es enthält auch erweiterte benutzergesteuerte Drift-Korrektur. Dies ist wichtig für die genaue und schnelle Erfassung von Bildern, wodurch der Zeitaufwand für einen Scan reduziert wird. S-570 ist voll kompatibel mit einer Reihe von Automatisierungs- und Bewegungssteuerungssystemen, die eine schnelle und einfache Einrichtung komplexer SEM-Bildaufgaben ermöglichen. Darüber hinaus ermöglicht eine offene Plattform eine einfache Integration mit einer Vielzahl von bildgebenden Systemen und Automatisierungssoftware, was die Palette der verfügbaren bildgebenden Anwendungen erweitert. Schließlich ist S 570 entworfen, um herausragende Leistung zu einem wettbewerbsfähigen Preis zu liefern. Damit ist HITACHI S-570 eine ideale Wahl für jede materialwissenschaftliche Anwendung, die hochauflösende Bildgebung und Analyse erfordert.
Es liegen noch keine Bewertungen vor