Gebraucht HITACHI S-570 #9167701 zu verkaufen

HITACHI S-570 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses Modell enthält eine Vielzahl von Funktionen, die Wissenschaftlern und Forschern helfen sollen, die Bildgebung von höchster Qualität zu erhalten. Die einstellbare Kammer, Säule und der Detektor ermöglichen eine feinabstimmende Einstellung, die die Bildgebungsleistung optimiert und die Vielseitigkeit des Mikroskops erhöht. Zusätzlich wird HITACHI S 570 mit präzise ausgerichteten Komponenten für Robustheit und reduzierte Drift und Vibration gebaut. Es ist auch mit einem Umweltkontrollsystem ausgestattet, das Klimaanlagen und andere Maßnahmen zur Stabilitäts- und Kontaminationskontrolle enthält. S-570 ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die eine verbesserte Leistung und höhere Zuverlässigkeit im Niedervakuumbetrieb bietet. Diese Feldemissionskanone verwendet eine geschärfte Wolframspitze, die auf eine hohe Temperatur erhitzt wird, um Elektronen zu emittieren. Die Elektronen werden dann auf hohe Geschwindigkeiten beschleunigt und auf kleinere Bereiche der Probe fokussiert, was zu einem deutlicheren und detaillierteren Bild führt. S 570 verfügt außerdem über eine Vielzahl fortschrittlicher Signalerkennungssysteme, die eine breite Palette von Probeneigenschaften wie Topographie, Zusammensetzung und elektrische Eigenschaften ermöglichen. Darüber hinaus sorgt die fortschrittliche Elektronik für genaue und flache Feldbildgebung. HITACHI S-570 verfügt auch über eine automatisierte Probenphase und umfasst erweiterte Bildgebungs-, Analyse- und Navigationsmöglichkeiten zur schnellen Lokalisierung und Bestimmung der genauen Platzierung von Proben für eine optimale Bildgebung. HITACHI S 570 ist eine ausgezeichnete Wahl für Forscher und Wissenschaftler in einem breiten Spektrum von Disziplinen, von Biologie und Materialwissenschaft bis hin zu Industriediagnostik und Engineering. Seine Kombination aus Feinabstimmung und automatisierten Funktionen machen dieses zu einem umfassenden und zuverlässigen Rasterelektronenmikroskop.