Gebraucht HITACHI S-6100 #293665021 zu verkaufen

HITACHI S-6100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das entwickelt wurde, um hervorragende Bildgebungs- und Merkmalsanalysen bis zum Nanometerspiegel bereitzustellen. Das Mikroskop ermöglicht sowohl Nieder- als auch Hochvakuum-Betrieb und seine einzigartige modulare Konstruktion kann einfach konfiguriert werden, um die Anforderungen aller Stufen der Geräteentwicklung zu erfüllen, von der Halbleiterstrukturanalyse über mikro-elektromechanische System (MEMS) und Mikrofluidik-Geräte-Inspektion. Der vielseitige HITACHI S 6100 verfügt über mehrere Komponenten zur Beschaffung detaillierter Bilder. Die Vakuumkammer ermöglicht es dem Elektronenstrahl, Bilder von Targets mit extrem hoher Auflösung zu erzeugen, während die Probenkammer die Probe und den einfallenden Strahl enthält. Mit dem Einsatz leistungsstarker Scanspulen und anspruchsvoller Wendelinsen ist die Probenkammer in der Lage, Funktionen bis zu 0,3 nm bei der ultimativen Auflösung von 0,05 nm zu sondieren. Fortschrittliche Strahlformungstechnologie wird auch verwendet, um Elektronenstrahlablenkung und Elektronenhintergrundrauschen zu reduzieren, um eine präzise Bildgebung zu gewährleisten. Weitere Merkmale von S-6100 sind der In-Objektiv-Detektor zur automatisierten Bildaufnahme und -analyse, die Fähigkeit, Merkmale wie Defekte zu bewerten und die ultrapräzise Analyse von Beschichtungen, Dünnschichtstrukturen und Morphologien. Das Instrument bietet auch eine breite Palette von Automatisierungswerkzeugen zur Maximierung von Durchsatz und Leistung sowie eine Auswahl an automatisiertem Mikroskopzubehör, einschließlich eines programmierbaren Probenmanipulators, einer automatisierten Bühne und einer Autosonde. S 6100 ist mit benutzerfreundlichen Funktionen ausgestattet, einschließlich eines hochauflösenden Monitors in der Benutzerkonsole für die Echtzeitanzeige und -analyse. Der SE-Detektor ermittelt automatisch die optimalen Betriebsbedingungen für maximale Auflösung und Kontrast. Ein eingebautes Probenstufenmodul hilft auch, seitliches Driften zu vermeiden und die Probenzentrierung zu gewährleisten. Ein optionaler EDX-Detektor (Energy Dispersive X-ray) ermöglicht die elementare Analyse von bis zu 50 Elementen. Insgesamt wird HITACHI S-6100 zu einem leistungsstarken wissenschaftlichen Werkzeug, das den Anwender die mikroskopische Welt mit seiner überlegenen Bildgebungsleistung, seiner ultimativen Auflösung und automatisierten Funktionen für eine effiziente Probenbehandlung erkunden lässt. Sein modularer Aufbau ermöglicht eine überlegene Flexibilität für jede Laborsituation.