Gebraucht HITACHI S-6100 #9144954 zu verkaufen

HITACHI S-6100 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bilder des Inneren von Materialien und Strukturen liefert. Es verwendet Elektronenoptik, einen Elektronenstrahl, einen Detektor und einen Röntgendetektor, um seine Visuals zu erstellen. Darüber hinaus verfügt es über eine Probenstufe mit motorisierten Steuerungen von X/Y/Z und Neigung, die eine präzise Manipulation und Einstellung der Probe für eine bessere Bildgebung ermöglicht. Zu den Hauptkomponenten von HITACHI S 6100 gehören die Elektronenkanone, die Elektronenlinsen, der Elektronendetektor und der Röntgendetektor. Die Elektronenkanone liefert Elektronen, die durch die Elektronenlinsen beschleunigt und fokussiert werden, so dass Bilder mit unterschiedlichen Vergrößerungen erzeugt werden können. Der Elektronendetektor ermöglicht es dem Benutzer, das Bild auf einem Display anzuzeigen, wie es erzeugt wird, sowie eine Anzeige der verwendeten Vergrößerung. Der Röntgendetektor bietet Röntgenspektren der Probe, so dass der Benutzer elementare Inhalte und Verteilung mit größerer Präzision analysieren kann. S-6100 ist in der Lage, hohe Auflösung, 3D-Bilder der Morphologie, Oberflächenmerkmale und interne Funktionen zur Verfügung zu stellen. Seine bildgebenden Fähigkeiten werden durch die Sekundärelektronen-Bildgebung (SEI) und die rückgestreuten Elektronen-bildgebenden (BEI) Modi weiter verbessert. Mit SEI kann der Benutzer eine Oberflächenansicht der Probe sehen und mit BEI kann der Benutzer die Oberfläche und interne Merkmale sehen. S 6100 verfügt auch über eine automatisierte Stufe, die vorprogrammiert werden kann, um einfache Routinen wie einen systematischen Scanbereich, eine Stereo-Abbildung, eine gekippte Abbildung oder ein Mosaik durchzuführen, wodurch größere Probenbereiche mit feinerer Auflösung abgebildet werden können. Darüber hinaus ermöglicht die Kippstufe eine größere Verstellbarkeit und Manipulation der Probe mit der Fähigkeit, in mehreren Winkeln und Drehungen zu kippen. Schließlich verfügt HITACHI S-6100 über eine erweiterte Analyse-Suite, die Röntgenmikroanalyse, elektronenrückgestreute Beugung (EBSD) und automatisiertes Hyper-Volume-Mapping (AHVM) umfasst. Dadurch kann der Anwender nicht nur die Oberflächentopographie, sondern auch die innere Struktur, Zusammensetzung und kristallographische Orientierung der Probe analysieren. HITACHI S 6100 ist ein Hochleistungs-SEM, das erweiterte Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet. Sein ausgeklügeltes Design ermöglicht eine erhöhte Auflösung, bessere Bildgebung und verbesserte analytische Fähigkeiten, die eine detailliertere Analyse von Proben ermöglichen. Durch die Verwendung seiner erweiterten Bildgebungs- und Analysefunktionen kann der Benutzer detailliertere Informationen aus festen Materialien extrahieren, um ihre Struktur und Eigenschaften besser zu verstehen.