Gebraucht HITACHI S-6200H #293742783 zu verkaufen

HITACHI S-6200H Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches Hochleistungsinstrument zur Durchführung einer Vielzahl von Rasterelektronenmikroskopieanwendungen. Das Instrument bietet eine außergewöhnliche Bildauflösung, beispiellose Fokustiefe und eine breite Palette von Vergrößerungsoptionen von Subnanometer-Auflösung bis zu sehr hohen Vergrößerungen. S-6200H SEM hat ein völlig neues Design und bietet ein Maß an analytischer Leistung und Auflösung, das mit dieser Art von Instrument einst unmöglich war. HITACHI S-6200H ist mit einer beeindruckenden Auswahl an Funktionen ausgestattet, die den Betrieb einfach und effizient machen. Fortschrittliche Steuerungsalgorithmen ermöglichen eine präzise Steuerung von Strahlstrom, Beschleunigungsspannung und anderen Betriebsparametern und gewährleisten eine genaue Analyse. Das Instrument bietet auch mehrere Stufen der Bildkorrektur, einschließlich räumlicher Filterung und digitaler Bildverarbeitung. Der relativ geringe Rauschpegel von S-6200H eignet sich für Anwendungen, die eine hochauflösende Bildgebung und Analyse wie Materialwissenschaft und TEM-ähnliche Bildgebungsmodi erfordern. HITACHI S-6200H verfügt über ein einzigartiges Doppel-Raster-In-Linsen-Erkennungssystem, das eine hervorragende Signal-Rausch-Leistung bei einer Vielzahl von Bildgebungs- und Analyseaufgaben bietet. Die einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglicht es, aufwendige Analyseaufgaben mit Leichtigkeit zu bewältigen, was in wenigen Schritten erledigt werden kann. Die intuitive Benutzeroberfläche bietet auch Zugriff auf eine Fülle von Spezialfunktionen und erweiterte Funktionen wie automatische Parameteroptimierung und Bildgebung in mehreren Winkeln. S-6200H ist mit einem vollautomatischen Probenladesystem ausgestattet, das die Leistung des Instruments maximiert. Das automatisierte System eliminiert mühsame manuelle Verfahren und macht die Probenvorbereitung schnell und einfach. HITACHI S-6200H kommt auch mit einer Vielzahl von Zubehör, einschließlich Ionenstrahlpistolen und Halterungen, Musterpfannen und Mikrostufe, und Vakuumklemme und Basisplatten. Aufgrund seiner hervorragenden Auflösung und fortschrittlichen Eigenschaften ist S-6200H ein ideales Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen in der Rasterelektronenmikroskopie. Das Instrument ist ideal für die Untersuchung von Merkmalen kleiner als 1 Mikron und die Auswahl der Detektionsmodi erweitert die Analysefunktionen weiter. Das umfassende Leistungsspektrum von HITACHI S-6200H macht es zu einem wertvollen Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure in einer Vielzahl von Branchen.