Gebraucht HITACHI S-6200H #293811500 zu verkaufen

HITACHI S-6200H ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Forschungsstudien. Es ist eine vielseitige Ausrüstung mit erweiterten bildgebenden Fähigkeiten und Mustercharakterisierungswerkzeugen ausgestattet. Das System bietet hochauflösende Bildgebung mit einer Auflösung von bis zu 0,1 nm in x-, y- und z-Richtung und kann unter Vakuum- und Umgebungsbedingungen arbeiten. S-6200H bietet eine breite Palette von Funktionen, die die Benutzererfahrung verbessern sollen. Es hat variable Druck SEM (VP-SEM) Funktionalität sowie variable Druck Bildgebung in Vakuum/Atmosphäre SEM (VP-I-V SEM) Fähigkeit. Es verfügt auch über bequeme Auto-Funktionen wie Auto-Fokus, Auto-Apertur, Auto-Gain und Auto-Stigmator Stabilisierung. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine ultrahohe Vakuumkompatibilität für erhöhte Empfindlichkeit und einen eigenständigen Probenhandhabungsarm für mehr Komfort. HITACHI S-6200H ist mit einer fortschrittlichen EDS-Maschine ausgestattet, mit proprietären EDX-Spektrometern für die Elementaranalyse, die einen besseren Einblick in die Probenstruktur und Zusammensetzung ermöglicht. Das EDS-Tool kann sowohl Elementzuordnungs- als auch Multielement-Analysefunktionen ausführen. Für die manuelle Probenpositionierung umfasst S-6200H eine sechsachsige motorisierte Probenstufe, die präzise, einfache Bedienung und hohe Genauigkeit der Probenbewegung und Orientierung bietet. Umfangreiche Bildgebungsfunktionen wie Mehrstrahl-Richtungssteuerung, ein automatisiertes Detektor-Auswahlobjekt und ein Software-Paket zur Bildverbesserung machen es einfach, die beste Bildqualität zu erhalten. Für Anwender, die eine eingehende Probencharakterisierung benötigen, bietet HITACHI S-6200H fortschrittliche Analysetechniken wie Electron Backscatter Diffraction (EBSD), Energy Dispersive X-Ray (EDX) und Cathodolumineszenz (CL), die eine hochauflösende Abbildung ermöglichen. S-6200H hat auch eine Reihe von anspruchsvollen Softwarelösungen für die Bildgebung und Analyse, einschließlich Visualisierungstools und Bildfusionssoftware. Darüber hinaus umfasst das SEM mehrere Netzwerkschnittstellen und ein Hochgeschwindigkeits-Sicherheitsmodell für sichere Datenübertragungen zwischen Standorten. So können Benutzer ihre Daten problemlos teilen und von jedem Ort aus mit ihren Kollegen zusammenarbeiten. HITACHI S-6200H ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer Vielzahl fortschrittlicher Fähigkeiten, wodurch es für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen geeignet ist. Die hohe Auflösung und Reichweite der Bildgebungs- und Analysefunktionen, gepaart mit benutzerfreundlicher Software und einer Reihe von Netzwerkoptionen, machen es zu einem idealen Werkzeug für die Forschung sowohl im Labor als auch im Bereich.