Gebraucht HITACHI S-6280 #84156 zu verkaufen

HITACHI S-6280
ID: 84156
CD SEM.
HITACHI S-6280 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es hat eine ultrahohe maximale Vergrößerung von 12.000x und eine ultrahohe Punktauflösung von 1.4nm. Es verfügt auch über eine große Schärfentiefe von 30-130nm. Die große Schärfentiefe und die hohe Auflösungsleistung ermöglichen die Untersuchung großer dreidimensionaler Konstruktionsmerkmale bei hohen Vergrößerungen. HITACHI S 6280 verfügt über eine große 6 „x 6“ Kapazität Wafer Stufe und ein 4 „x 4“ Goniometer Probenhalter, so dass es große Substrate und Proben unterzubringen. Es enthält auch eine euzentrische Neigung, um die Probe in schrägen Winkeln zu analysieren. Mit seinem begrenzten 3-Grad-Gesamtneigungsbereich kann er 2 und 3-dimensionale Bilder erzeugen. S-6280 beinhaltet eine LaB6 Feldemissionskanone und eine Landskron-Kaltkathodengewehr, die es ermöglicht, mit hohen Beschleunigungsspannungen zu arbeiten. Die LaB6 Pistole bietet eine hochauflösende Bildgebung, während die Landskron Pistole eine kontrastreiche Bildgebung ermöglicht. Beide Kanonen arbeiten mit fünf verschiedenen Beschleunigungsspannungen und können für verschiedene Anwendungen wie Bildgebung und Elementaranalyse verwendet werden. Das SEM verfügt auch über eine Vielzahl von Steuerungen, Detektoren und Abbildungsmodi, einschließlich rückgestreutes Elektronenbild (BSE), Sekundärelektronenbild (SEI), rückgestreute und sekundärelektroneninduzierte Röntgenspektroskopie (EDX/SX), Elektronenenergieverlustspektroskopie (eels). Alle diese Abbildungsmodi und Detektoren bieten qualitativ hochwertige Bilder und Daten für eine genauere Analyse von Proben. Darüber hinaus bietet das SEM eine Reihe integrierter Funktionen wie motorisiertes Objekttransfersystem, Autofokussierung und Scanbereichskalibrierung. Es unterstützt auch eine Automatisierungsoption, die Routineaktivitäten des Benutzers automatisiert, wie wiederholtes Scannen und Nähen von Bildern. S 6280 ist ein sehr vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, ideal für die nanoskalige Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben. Es ist ein wertvolles Werkzeug für Forschung, Analyse und industrielle Anwendungen.
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