Gebraucht HITACHI S-6280 #9265299 zu verkaufen

HITACHI S-6280 Rasterelektronenmikroskop ist eine fortschrittliche Mikroskopausrüstung, die digitale Bildgebung und energiedispersive Röntgenspektrometrie sowie erweiterte Spektroskopie-Fähigkeiten verwendet. Es ist ein ideales Instrument zur Charakterisierung von Proben in einer Vielzahl von Anwendungen, wie chemische und physikalische Analyse von Kristallen oder Metallen, oder zur Beobachtung der Mikrostrukturen von Materialien auf der Nanoskala. HITACHI S 6280 nutzt sekundäre und rückgestreute Elektronenbildgebung sowie Niederspannungs-fensterlose Spektroskopie, um Proben zu sondieren. Der Elektronenstrahl konvergiert optisch auf der Probe, was zu hochauflösenden bildgebenden und spektroskopischen Messungen führt. Das System ist in der Lage, anorganische, organische und polymere Materialien in einer Vielzahl von Größen von Mikrometern bis Nanometern genau abzubilden. Darüber hinaus ist das Mikroskop in der Lage, ein SEM-Bild quantitativ zu analysieren. Das Mikroskop arbeitet im Hochvakuum und ist mit einer Kühlstufe ausgestattet, die Beobachtung und Analyse bei niedriger Temperatur ermöglicht. Die niedrige Temperatur ist wesentlich für isolierende Materialien, wie Polymere, und für die Beobachtung der Oberflächenstruktur und thermischen Eigenschaften von Metallen. S-6280 verfügt auch über eine Feldemissionskanone zur Strahlspannungsregelung und eine benutzerfreundliche grafische Schnittstelle. Der Benutzer kann mit Hilfe dieser Benutzeroberfläche die Elektronenstrahlenergie, die Punktgröße, die Verweilzeit und andere Parameter einstellen. Darüber hinaus ist S 6280 mit einer zweiachsigen, elektronisch angetriebenen X-Y-motorisierten Stufe zur automatischen Probenmanipulation in der Lage. Die große Stufe des Geräts hat eine maximale Gewichtskapazität von 10kg und eignet sich daher für größere Proben, die gescannt werden müssen. HITACHI S-6280 verwendet drei Arten von Detektoren: zwei sekundäre Elektronendetektoren, einen EDS-Detektor für die Röntgenanalyse und einen rückgestreuten Elektronendetektor. Der integrierte EDS-Detektor kombiniert mit dem Röntgendetektor zur zerstörungsfreien Elementaranalyse, was eine einzigartige Analyse und Charakterisierung der Probe ermöglicht. HITACHI S 6280 ist auch mit optionalem Zubehör wie einer In-situ-Heizstufe zur Untersuchung thermischer Eigenschaften, einer Linsensammlung, einem Vakuumübertragungsarm und einer Belichtungskammer ausgestattet. Der Transferarm und die Belichtungskammer ermöglichen es dem Benutzer, Proben ohne Kontamination vom und zum Mikroskop zu bewegen. S-6280 ist eine leistungsstarke und vielseitige Rasterelektronenmikroskopmaschine mit fortschrittlichen bildgebenden und spektroskopischen Fähigkeiten. Von anorganischen und organischen Materialien bis hin zu Metallen bietet dieses Tool vielfältige Möglichkeiten zum Scannen und Charakterisieren von Proben im Mikro- und Nanobereich. Darüber hinaus verfügt das Instrument über eine Reihe von Detektoren sowie optionales Zubehör und eignet sich somit ideal für Forschungsanwendungen in verschiedensten Bereichen.