Gebraucht HITACHI S-6280 #9359437 zu verkaufen

HITACHI S-6280 High Energy Field Emission Scanning Electron Microscope (FESE-SEM) ist ein Präzisionsinstrument für industrielle Anwendungen, Forschung und Bildungszwecke. Es nutzt kleine Mengen von Elektronen für die Vergrößerung und Beobachtung. HITACHI S 6280 verfügt über beeindruckende Eigenschaften wie hohe Elektronenenergie, hochauflösende Bilder und eine einfache Benutzeroberfläche. S-6280 ist ein hochauflösendes SEM, das mit einer hochenergetischen Feldemissionspistole bis zu 5 nm vergrößern kann, um eine hochauflösende Bildgebung über ein weites Sichtfeld zu gewährleisten. Es verfügt über eine spezielle Bühne, die Bilder in X-Y-Z-Richtung aufnehmen kann. Damit kann S 6280 selbst kleinste Exemplare in hoher Qualität und detailliert aufnehmen. Es ist auch mit einem dynamischen Sekundärelektronendetektor zur Verfolgung der Topographie und Verteilung von Merkmalen auf einer Probe ausgestattet. Das FESE-SEM umfasst auch ein Oberflächenanalysesystem zur Messung der Zusammensetzung und Dicke von Proben. Es verfügt über eine Vakuumkammer und zahlreiche Kontaktsonden zur effizienten Messung der elektrischen Eigenschaften von Proben. Es ist auch möglich, die Probe mit einer E-Strahl-Pistole abzutasten, um die Zusammensetzung der Oberflächenbereiche zu analysieren. Die neueste Version von HITACHI S-6280 hat eine In-Linse Schottky Feldemissionselektronenquelle. Dies sorgt für scharfe und klare Bilder auch bei höheren Vergrößerungen. Es verfügt auch über ein Umweltkontrollsystem, das die optimale Temperatur und Feuchtigkeit für zuverlässige Ergebnisse beibehält. Darüber hinaus ist HITACHI S 6280 ein leistungsstarkes Tool, das zahlreiche Funktionen für fortgeschrittene Anwender bietet. Es ist mit einem HV-Cue-Bildmodus ausgestattet, mit dem Benutzer bis zu fünf Zeilen auswählen können, um ihre Bilder zu vergleichen. Darüber hinaus können Benutzer die Bildqualität mit dem erweiterten Bildsteuerungssystem anpassen. S-6280 High Energy Field Emission Scanning Electron Microscope ist ein beeindruckendes Instrument zur überlegenen Bildgebung, Oberflächenbewertung und Analyse von Proben. Seine Eigenschaften machen es zu einer großen Wahl für industrielle Anwendungen, Bildungszwecke und Forschungsstudien.