Gebraucht HITACHI S-7000 #76295 zu verkaufen

ID: 76295
Wafergröße: 4"-6"
Weinlese: 1991
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6" Secondary electron image resolution: 15 nm, 1 kV (150 angstroms) Magnification: 100x to 100,000x CD Measurement range: 0.05-100 microns Electron beam source: Field emission electron gun Lens system: 2-Stage electromagnetic lens reduction Auto loader: Single cassette, random accessing Objective lens aperture: Movable aperture (4 openings selectable / Alignable outside column) Stigmator: 8 pole electromagnetic type (X,Y) Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type Specimen stage movement: X-direction: 150 nm Y-direction: 150 nm Z-direction working distance: 5-15 mm T-tilt angle: 0° to 60° R-rotation angle: 360° Accelerating voltage: 0.7~3 kV Emission extracting voltage V1: 0~6.3 kV 1991 vintage.
HITACHI S-7000 Scanning Electron Microscope (SEM) ist eines der fortschrittlichsten verfügbaren wissenschaftlichen Instrumente. S-7000 ist ein hochpräzises Werkzeug, um Proben in einer Vielzahl von Umgebungen zu untersuchen und detaillierte Bilder auf nanoskaliger Ebene (weniger als 1 Mikrometer in Auflösung) bereitzustellen. Um zuverlässige Bilder zu erzeugen, verwendet das SEM einen Elektronenstrahl und mehrere Komponenten zur Detektion, Fokussierung und Bildgebung. Ein Hochspannungsnetzteil kann den Elektronenstrahl auf bis zu 30 KV beschleunigen und ermöglicht Analysen in tiefen bis hohen Vergrößerungsbereichen. Eine Kondensatorlinse fokussiert dann den Elektronenstrahl auf die Probe, und mit einem Detektor können rückgestreute Elektronen zur topographischen Abbildung detektiert werden. Der Detektor ermöglicht auch eine elementare Abbildung durch Detektion von Signalen von Röntgenspektrometern. Für höchste Präzision und Genauigkeit nutzt HITACHI S-7000 eine vollständig computergestützte Ausrüstung mit Software- und Hardwaresteuerungen. Es wurde entwickelt, um genaue Bilder innerhalb einer Vielzahl von Betriebsbedingungen zu erzeugen und die höchste Bildklarheit zu erhalten. Auch aufgrund der fortschrittlichen motorischen Steuerungssysteme von S-7000 ist das SEM in der Lage, durchgängig ohne manuelle Einstellung zu arbeiten. HITACHI S-7000 verfügt zudem über ein integriertes „Sample Handling“ -System, mit dem Proben sicher und einfach durch eine automatisierte Einheit verschoben, gedreht oder manipuliert werden können. Mit anderen Worten, S-7000 erübrigt sich die manuelle Handhabung von Proben, was die Gefahr einer Kontamination oder Beschädigung von Proben während des bildgebenden Prozesses erheblich reduziert. Darüber hinaus ist HITACHI S-7000 in der Lage, je nach Mustertyp und Betriebsparametern eine Vielzahl von Variablen zu erzeugen. Das bedeutet, dass die Fähigkeiten dieses SEM unter unterschiedlichen Bedingungen sehr anpassungsfähig und zuverlässig sind. Insgesamt ist S-7000 ein unschätzbares Werkzeug für mikrostrukturale und nanoskopische Probenanalysen. Mit seiner breiten Palette an operativer Flexibilität, exakten Bildgebungsfähigkeiten und automatisierter Probenhandhabungsmaschine ist HITACHI S-7000 ein außergewöhnliches Probenbildwerkzeug.
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