Gebraucht HITACHI S-7000 #9181743 zu verkaufen

HITACHI S-7000 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches Bildgebungs- und Analysewerkzeug zur Beobachtung von Oberflächen und nichtleitenden Materialien in hoher Auflösung. Dieses Mikroskop bietet eine beispiellose Genauigkeit und ist damit eines der fortschrittlichsten SEM-Systeme, die heute auf dem Markt erhältlich sind. Auf einer grundlegenden Ebene funktioniert S-7000 ähnlich wie ein herkömmliches Transmissionselektronenmikroskop, das einen fokussierten Elektronenstrahl verwendet, um ein Bild einer Zielprobe zu erzeugen. HITACHI S-7000 nutzt jedoch eine Rasterelektronenoptik, die einen fokussierten Elektronenstrahl über die Probe in einer Reihe von bogenförmigen Pfaden abtastet. Dies ermöglicht das Sammeln von Informationen sowohl über die Oberflächentopographie als auch über die elementare Zusammensetzung der Probe. S-7000 verwendet auch eine Vielzahl von Probenhaltern wie eine Stufenkippsteuerung, eine Probentablettenkippsteuerung und eine Probendrehsteuerung, die die Erfassung noch detaillierterer Daten aus der Probe ermöglicht. Neben seinen Scanfunktionen nutzt HITACHI S-7000 auch eine Vielzahl digitaler Prozesse wie Autofocus und Auto Scan, die eine hervorragende Abbildung sowohl der Oberflächentopographie als auch der Elementarzusammensetzung ermöglichen. Das Autofokus-System ist ein digitaler Prozess, der hilft, die Position des Elektronenstrahls so einzustellen, dass möglichst scharfe Bilder erhalten werden. Der Auto-Scan-Prozess ermöglicht die schnelle und hochauflösende Sammlung von Bildern über einen weiten Bereich. S-7000 bietet auch eine Vielzahl von bildgebenden Techniken wie Rasterschneckenmikroskopie, sekundäre Elektronenbildgebung, rückstreuende Elektronenbildgebung und Energie-dispersive Röntgenanalyse. Jede dieser bildgebenden Techniken bietet verschiedene Auflösungs- und Detailebenen, die es dem Benutzer ermöglichen, ein tieferes Verständnis der Zielprobe zu erlangen. Insgesamt ist HITACHI S-7000 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskopsystem, das beispiellose Genauigkeit bietet, um Benutzern ein tieferes Verständnis ihrer Zielprobe zu ermöglichen. Die Kombination aus Scanfunktionen, digitalen Prozessen und bildgebenden Verfahren bietet Anwendern eine unübertroffene Fähigkeit, tiefere Einblicke in nichtleitende Materialien zu gewinnen. Seine erweiterten Bildgebungs- und Analysefähigkeiten machen es zur perfekten Wahl für jede Forschungseinrichtung, die die Komplexität der Materialien, die sie studieren, verstehen möchte.