Gebraucht HITACHI S-7000 #9269129 zu verkaufen

HITACHI S-7000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für analytische und Forschungsanwendungen. Es ist ein fortschrittliches Instrument, das eine hervorragende Kombination aus überlegener Auflösung, Kontrast und Durchsatz bietet. Darüber hinaus ist S-7000 mit einer motorisierten Probenstufe ausgestattet, die signifikante Verbesserungen in der Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Messungen bietet. HITACHI S-7000 verfügt über eine Kammer mit variabler Kanone, die für bis zu zwei verschiedene Arten von Kanonen ausgelegt ist. Dadurch kann der Anwender schnell und einfach zwischen verschiedenen Analyse- und Bildgebungstypen wechseln. Die erste Pistole ist eine Beschleunigungsspannung von 20 kV und eine hochauflösende Abtastung mit einer CFE-Elektronenquelle (Cold Field Emission), die eine Auflösung von 0,2 Nanometern ermöglicht. Die zweite Pistole ist für Niederspannungsbilder ausgelegt und mit einer LaB6 Elektronenquelle ausgestattet, die eine höhere Stromdichte für Bilder mit größerem Kontrast bietet. S-7000 verfügt auch über ein patentiertes Scanmikrotomsystem (SMTS). Dieses System ermöglicht eine genaue Schnitt und Bildgebung in dreidimensionalen Proben, so dass der Benutzer detaillierte Messungen von Merkmalen von Interesse. Die Probenstufe ist motorisiert und bietet dem Benutzer die Möglichkeit, wiederholbare Messungen und Bildgebung genau durchzuführen. HITACHI S-7000 ist ein vielseitiges Instrument, das eine Vielzahl von Anwendungen ermöglicht. Es ist mit einem vielseitigen Detektorsystem ausgestattet, das für die Aufnahme verschiedener Arten von Detektoren ausgelegt ist, einschließlich eines Sekundärelektronendetektors, eines Rückstreuelektronendetektors und eines Rückstreudetektors mit niedrigem Winkel. S-7000 unterstützt auch eine breite Palette von Softwareanwendungen, einschließlich Mapping, Overlay und Tomographie. HITACHI S-7000 ist mit einer Reihe von Bildmanipulationswerkzeugen ausgestattet. Diese Tools bieten Benutzern Optionen für Bilder wie Kontrastverbesserungen, falsche Farbe und Auflösungsmanipulation. Darüber hinaus unterstützt S-7000 automatisierte Funktionen für die Probenausrichtung und automatisierte Messungen. Insgesamt ist HITACHI S-7000 ein fortschrittliches SEM, das für umfangreiche Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Es bietet eine überlegene Auflösung, Kontrast und Durchsatz sowie eine breite Palette von Softwareanwendungen, Bildmanipulationstools und automatisierten Funktionen. Dieses Instrument ermöglicht detaillierte Bildgebung und Messungen in Proben und ermöglicht so die Erforschung von Materialstrukturen und -eigenschaften auf hohem Niveau.