Gebraucht HITACHI S-7000 #9282901 zu verkaufen
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ID: 9282901
Wafergröße: 4"-6"
Weinlese: 1989
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6"
Secondary electron image resolution: 15 nm (150 angstroms) at 1 kV
Magnification: 100x to 100,000x
CD Measurement Range: 15 Å (15 nm)
Re-producibility: ± 0.02 µm / ±1%
Electron beam source: Field emission electron gun
Accelerating voltage: 0.7-3 kV (100 V/Step)
Measurement range: 0.1- 200 µm
Auto-focus and auto-stigmation
Automated CD measurement
Multi point measurement capability
Programmable stage: Up to 60° Tilt
1989 vintage.
HITACHI S-7000 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Bildgebungswerkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure. Es hat die Fähigkeit, Auflösungen von drei Nanometern und Vergrößerungen bis zu 100.000 Mal zu erreichen. S-7000 SEM bietet Hochgeschwindigkeits-Bilderfassung und eine breite Palette von Bildgebungsfunktionen. HITACHI S-7000 erzeugt Bilder, indem es die Wechselwirkungen zwischen den Elektronen und dem betrachteten Zielmaterial nutzt. Die einfallenden Elektronen durchlaufen eine Reihe von Linsen, bevor sie mit der Probe interagieren. Die Wechselwirkung erzeugt eine Reihe von Sekundärelektronen und rückgestreuten Elektronen, mit denen ein Bild der Probe erzeugt werden kann. Mit seinem Scanning-System ermöglicht S-7000 es Benutzern, große Oberflächenbereiche zu erfassen oder feine Details genau zu betrachten. HITACHI S-7000 umfasst sowohl manuelle als auch computergesteuerte Probenmanipulatoren. Auf diese Weise können Benutzer die Probe im Sichtfeld des Detektors leicht bewegen, drehen und neigen. Eine Auswahl an Objektiven ermöglicht es Benutzern, die optimalen Bildgebungseinstellungen für ihre Anwendung zu wählen. S-7000 SEM ist mit einem fortschrittlichen quantitativen Bildanalysesystem ausgestattet, mit dem Benutzer die Größe und Form der Proben genauer messen können. Dadurch eignet sich HITACHI S-7000 besonders für morphologische Untersuchungen und Messungen. S-7000 SEM verfügt auch über eine Reihe von Hochleistungsdetektoren, mit denen Benutzer Röntgen-, EDS-, AAL-, CL- und BSE-Bilder nach Bedarf erfassen können. Das SEM beinhaltet eine Stufe zur Probenmontage sowie eine in-situ Vakuumkammer, die leicht entfernt und ausgetauscht werden kann. Insgesamt ist HITACHI S-7000 eine ausgezeichnete Wahl für jedes Forschungsprojekt oder jede Einstellung, die ein äußerst zuverlässiges, präzises und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop benötigt. Mit seiner hochauflösenden Bildgebung, erweiterten bildgebenden Funktionen und einer Vielzahl quantitativer bildgebender Analyseeigenschaften ist S-7000 eine ideale Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure mit beliebigem Hintergrund.
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