Gebraucht HITACHI S-7800 #293664979 zu verkaufen

HITACHI S-7800 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochleistungsfähiges, hochauflösendes Bildgebungssystem, das entworfen wurde, um sehr detaillierte Bilder von kleinen Objekten zu erzeugen. Es ist weit verbreitet in der industriellen Forschung und Entwicklung, Qualitätskontrolle und Fertigung. Die Elektronenoptik von S-7800 wurde entwickelt, um hochauflösende Bilder von kleinen Objekten in 2D- und 3D-Konfigurationen bereitzustellen. Das System enthält eine Elektronensäule, bestehend aus einer Waffenlinsenanordnung, Detektoranordnung, Objektiv und Probenstufen. Die Elektronenkanone ist eine thermionische Elektronenkanone, die Elektronen mit einem breiten Energiebereich von 10 bis 30 kV erzeugt. Die Pistole ist an einer Säule mit drei linearen Stufen montiert, X-Y-Z, die verwendet werden, um die Pistole um eine Probe für Fokus und Vergrößerung zu bewegen. Mit einem Quellensammler werden Partikel gesammelt, die durch Ionisation von Molekülen in der Probe erzeugt werden. Die optische Spalte enthält eine Objektivlinse und sechs Detektoren, einen Rückstreudetektor, Sekundärelektronendetektor, reflektierten Elektronendetektor, Stereodetektor, Kathodolumineszenzdetektor und einen Bildscannerdetektor. In der optischen Spalte dient die Objektivlinse zur Vergrößerung von Bildern zur genaueren Beobachtung. Alle Detektoren liefern zusammen mit dem Bildscanner Daten wie Lichtstreuung, sekundäre und reflektierte Elektronen, Lumineszenz und Stereo-3D-Bilder. Die Probenstufe wird verwendet, um die Probe vor der Bildgebung zu positionieren und umfasst Funktionen wie X-Y-Stufenweg von bis zu 200mm, Probenkippung bis zu 90 Grad und einen Vakuumanschluss. Die Stufe kann auch kleine Objekte oder dünne Proben wie Transistoren, integrierte Schaltungen und Kohlenstoff-Nanoröhren mit einer lateralen Mindestabmessung von 30 Nanometern aufnehmen. Die Bildverarbeitungssoftware des SEM ermöglicht es dem Benutzer, Bilder in einer Vielzahl von Dateiformaten zu analysieren, zu speichern und zu speichern. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von bildgebenden Funktionen wie Kantenerkennung, Kontrastverbesserung und Pseudofärbung auszuführen. Die Software bietet auch Funktionen zur Steuerung des Elektronenstroms, der Beschleunigungsspannung und der Vergrößerung des Mikroskops. Auf diese Weise können die Mikroskopieparameter angepasst werden, um den erforderlichen Detail- oder Kontrastgrad zu erhalten. Insgesamt bietet HITACHI S-7800 Scanning Electron Microscope Anwendern die hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, die für eine Vielzahl von industriellen Forschungs- und Entwicklungsanwendungen erforderlich sind. Mit seiner leistungsstarken Elektronenoptik, hochempfindlichen Detektoren und fortschrittlichen Bildverarbeitungsfunktionen ist S-7800 eine ausgezeichnete Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure, die eine qualitativ hochwertige Bildgebung und Analyse durchführen möchten.