Gebraucht HITACHI S-7800 #61575 zu verkaufen

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ID: 61575
Wafergröße: 6"-8"
Cold field emission scanning electron microscope, 6"-8" Resolution: 5nm SE Detector: Through the lens type Magnification: 150,000x Accelerating voltage: 0.5 kV - 15 kV Measuring range: 0.1mm - 10mm Measurement repeatability: 15nm at 3 sigma Stage: 5-axis CPU controlled X, Y: 0-200mm Z: 4, 7, 12 mm T: 0-30°, R: 360° Stage positioning accuracy: 10 um Wafer handling: Cassette to cassette Vacuum system: Rotary, turbo and ion pumps Evac control: Automatic Pattern recognition: standard Measurement: Menu driven Interface with defect inspection system EDX.
Das HITACHI S-7800 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes Forschungsinstrument, das in einer Vielzahl wissenschaftlicher und industrieller Anwendungen eingesetzt wird. Diese Art von Elektronenmikroskop verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um eine Probe abzubilden und Vergrößerungen bis zu 100.000 Mal so viel wie das bloße Auge zu erreichen. So können Forscher die feinen Details einer Probe beobachten, die für das menschliche Auge unsichtbar sind. S-7800 ist in der Lage, ultrahochauflösende Bilder von kleinen Merkmalen auf Proben abzubilden. Es verfügt über Hochspannungseinstellungen bis zu 30 kV, so dass Benutzer detaillierte Bilder auch der kleinsten atomaren Ebene Funktionen auf der Probe zu erfassen. HITACHI S-7800 verfügt auch über eine integrierte Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDX) -Einheit, die zur Analyse der elementaren Zusammensetzung der Probe verwendet wird. Dies liefert wertvolle Daten über die visuell beobachtbaren Merkmale hinaus. S-7800 kann mit einer Umweltkammer ausgestattet werden, die es ermöglicht, Proben in verschiedenen Temperatur- und Druckbedingungen zu untersuchen. Dies eröffnet eine Reihe von experimentellen Möglichkeiten, von Studien flüchtiger Verbindungen bis hin zu Untersuchungen, wie Materialien auf extreme Bedingungen reagieren. HITACHI S-7800 bietet auch eine Reihe von Abbildungsmodi wie Sekundärelektronenbildgebung, Scanionenbildgebung und Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie. S-7800 ist mit einem Softwarepaket ausgestattet, das es Forschern ermöglicht, das Mikroskop einfach auf ihre speziellen Anforderungen zu bedienen und zu optimieren. Dazu gehören die Steuerung des Strahls auf maximale Auflösung, die Einstellung von Abbildungsparametern und die Aufnahme digitaler Bilder zur weiteren Analyse. Zusammenfassend ist HITACHI S-7800 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Mit seiner Kombination aus hohen Vergrößerungsfähigkeiten und einer EDX-Einheit eignet es sich ideal für Studien zur Materialstruktur und Zusammensetzung auf atomarer Ebene. Es ist auch in der Lage, Proben in einer Reihe von Umweltbedingungen unterzubringen, so dass es ein wertvolles Werkzeug für Physiker, Chemiker und Materialwissenschaftler.
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