Gebraucht HITACHI S-7800 #9109894 zu verkaufen
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ID: 9109894
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2008
CD SEM, 8"
(1) Main column unit
(1) Display unit
(1) Robot
(1) Power supply Unit
(1) HV power supply unit
(1) Chiller (EDX)
2008 vintage.
HITACHI S-7800 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM). Es bietet hervorragende bildgebende Funktionen und außergewöhnliche analytische Leistung. Das SEM ist mit einem automatisierten Bild-erweiterten Erkennungssystem ausgestattet, das eine verbesserte Wiederholbarkeit, hochauflösende Bildgebung, Datenerfassung und -analyse ermöglicht. Die Beschleunigungsspannung von S-7800 ist variabel und kann bis zu 30kV betrieben werden, sodass eine breite Palette von Probenmaterialien mit hervorragender Bildqualität und Auflösung untersucht und analysiert werden kann. Zusätzlich wird die Arbeit dieses SEM durch eine Vielzahl von Detektoren und Detektorsystemen ergänzt, wie die energiedispersive Röntgen- (EDX) Spektroskopie, EBSD (electron backscatter diffraction) und EDS (energy dispersive spectroscopy). HITACHI S-7800 bietet eine beeindruckende Kombination von Funktionen wie hochgenaue Bildauflösung, Spannungsstabilität und Energieauflösung. Mit seinen Hochdurchsatz-Bildgebungsfähigkeiten lassen sich selbst die komplexesten Probenstrukturen mit größter Klarheit betrachten. Die Manipulation von Proben und Daten kann einfach mit Hilfe mehrerer erweiterbarer computergrafischer Benutzeroberflächensoftware durchgeführt werden. S-7800 verfügt über ein integriertes Musteransichtssystem, das es ermöglicht, gleichzeitig verschiedene Stufen der Probenuntersuchung durchzuführen. Dies ermöglicht einen effizienteren Workflow und eine längere Betriebsdauer. Die Probenkammer ist hoch temperatur- und umgebungsgesteuert mit einem maximalen Druck von 10-6 mbar, so dass sie eine Vielzahl von Proben unter niedrigem Vakuum untersuchen kann. HITACHI S-7800 ist auch mit einer Bildmanipulationsoption ausgestattet, wobei der Benutzer Helligkeit, Kontrast, Farbe oder Größe der voreingestellten Bilder anpassen kann. Das SEM ist auch in der Lage, präzise Messungen an 3D-Sehenswürdigkeiten durchzuführen. Es misst Linienbreite, Oberfläche und Umfang verschiedener Querschnittsstudien. Neben der Vielzahl an Funktionen ist die benutzerfreundliche Software eines der fortschrittlichsten SEMs auf dem Markt. Abschließend ermöglicht S-7800 die Mikroanalyse einer Vielzahl von Materialien mit überlegener Bildgebung, Datenerfassung und analytischer Leistung.
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