Gebraucht HITACHI S-7800H #293607884 zu verkaufen

ID: 293607884
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-7800H ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hervorragende bildgebende und analytische Fähigkeiten bietet. Es verfügt über eine hohe Beschleunigungsspannung von 30kV, eine hohe räumliche Auflösung von bis zu 1 nm sowohl in Sekundärelektronen (SEs) als auch in rückgestreuten Elektronen (BSEs) und eine große Fokustiefe von 200nm. Darüber hinaus verfügt dieses SEM über eine breite Palette von analytischen Funktionen. Es kann die Elementaranalyse über EDX, EBSD und WDX unterstützen und ermöglicht die Charakterisierung komplexer Elementarzusammensetzungen. Mit einer relativ hohen Auflösung in SEM kann dieses Instrument verwendet werden, um die Geometrien kleiner Partikel zu messen, die Struktur verschiedener Materialien zu untersuchen und die Eigenschaften von Nanomaterialien zu untersuchen. Um Präzision in der Probenbildgebung zu gewährleisten, ist HITACHI S-7800 H mit einem automatischen Ausrichtmechanismus ausgestattet, der es ermöglicht, die Probenposition und den Fokus automatisch zu erfassen. Diese Funktion sorgt für Wiederholbarkeit beim Fokussieren und reduziert die manuellen Schritte. Darüber hinaus ist das SEM mit einem Energiefilter ausgestattet, um qualitativ hochwertige Bilder zu gewährleisten, insbesondere bei Proben aus niedrigen Z-Materialien. Diese Funktion eliminiert Interferenzmuster und reduziert Bildrauschen für ausgezeichnete Bildklarheit. S-7800H bietet eine hochgradig anpassbare Benutzeroberfläche. Es kommt mit einem großen Touchscreen-Menü und hinterleuchteten LED-Tasten für einfache Bedienung. Die eingebettete Software ermöglicht es Benutzern, die Einstellungen des Mikroskops an ihre Bedürfnisse anzupassen. Es beinhaltet auch ein Mikrostufen-Backfocus-System, das es Anwendern ermöglicht, sich präzise auf Ziele auf Nanometerebene zu konzentrieren. Mit hochintensiver Beleuchtung und der Fähigkeit, eine hohe Vergrößerung zu unterstützen, hat S-7800 H das Potenzial, eine Reihe von Anwendungen wie Metallurgie, Halbleiter- und optische Geräteherstellung, Entwicklung medizinischer Geräte und Materialforschung zu analysieren. Die bildgebenden und analytischen Fähigkeiten des Mikroskops können zur Analyse der elektronischen und geometrischen Eigenschaften von Proben sowie zur Quantifizierung der Infiltration verschiedener Ionen verwendet werden. Insgesamt ist HITACHI S-7800H eine ausgezeichnete Auswahl an SEM, die hochgenaue Ergebnisse in Forschung und industriellen Anwendungen liefern kann.
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