Gebraucht HITACHI S-7800H #293641909 zu verkaufen
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ID: 293641909
Wafergröße: 2"
Weinlese: 1997
Scanning Electron Microscope (SEM), 2"
Main unit
(2) Controllers
(3) Power supplies
1997 vintage.
HITACHI S-7800H ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur hochauflösenden Bildgebung und Charakterisierung einer Reihe von Probentypen. Es verfügt über eine erweiterte einzelne Neigungsdetektorspalte und Scanstufen, die ein weites Sichtfeld und eine ausgezeichnete Bildqualität bieten. Die kompakte Bauweise und die ergonomischen Eigenschaften des Mikroskops machen es sowohl für den Labor- als auch für den Feldeinsatz geeignet, während die modernste bildgebende Technologie und Software es ideal für Anwendungen wie Fehleranalyse, Materialforschung und metallurgische Bildgebung machen. Die Single-Tilt-Detektorsäule von HITACHI S-7800 H ist mit vier verschiedenen Energiedispersionsdetektoren ausgestattet: einem bildgebenden Detektor für Sekundärelektronen (SEs), einem rückgestreuten Elektronendetektor für rückgestreute Elektronen (BSEs), einem größeren Flächendetektor für Beugung zweiter und dritter Ordnung ter Ordnung. Der bildgebende Detektor hat eine maximale Auflösung von 1,25 nm und ein Sichtfeld von bis zu 5,0 mm. Der rückgestreute Elektronendetektor hat eine Auflösung von 1,0 nm und ein Sichtfeld von bis zu 10 mm. Der großflächige Detektor hat eine Auflösung von 2,5 nm und ein Sichtfeld von bis zu 6,7 mm, mit einer maximalen EDS-Zählrate von 460.000 cps. Die Scanstufen von S-7800H haben eine maximale Geschwindigkeit von 180 cm/s in X- und Y-Richtung mit einem maximalen Fahrbereich von 40 mm in X- und Y-Koordinaten. Die Stufen sind mit Anschlusspunkten für DA-Signale (Differential Array) und Motorbremsen ausgestattet und eignen sich somit für den automatisierten Betrieb. Die eingebauten digitalen Bildgebungsfunktionen des Mikroskops umfassen die Probendrehung bis 360 ° und die Positionierung in X-, Y- und θ-Koordinaten. Anwendervorgaben können für relevante Parameter gespeichert werden und die Analysesoftware bietet eine Reihe von Datenanalysefunktionen und erweiterten Funktionen. S-7800 H ist ein leistungsfähiges und datenreiches Bildgebungssystem, das den Anforderungen moderner Materialforschung, Fehleranalyse und Metallurgie gerecht wird. Seine ausgeklügelten Funktionen und Technologien ermöglichen es Benutzern, Experimente mit hoher Genauigkeit, Auflösung und Detailtreue abzubilden, zu analysieren und durchzuführen.
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