Gebraucht HITACHI S-7800H #9120137 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 9120137
CD SEM inspection system, 8"
Manual wafer loading
Resolution: 5nm at 1kv
Reproducible Precision of Measurement: Static 3 Sigma 0.010um
Reproducible Precision of Positioning: X & Y Stage within +/- 15um
Precision of the Stage Rotation: X & Y within +/- 60um
Pre-alignment of Stage: X & Y +/- 15um
Throughput: 5 Wafers/Hour
Oxford INCAx-Sight EDX
Stage Movable Range:
X: 0 ~ 200mm
Y: 0 ~ 200mm
Z: 4 ~ 12mm
R: 0 ~ 360° T: 0 ~ 60°
Vacuum Pumps
Chiller
Transformer
Operations Manual and Documentation.
HITACHI S-7800H ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Vielzahl von bildgebenden Verfahren ausführen kann. Es verfügt über eine große Probenkammer, die die Beobachtung und Analyse größerer Proben ermöglicht. Das elektronische System verfügt über eine integrierte Bildverarbeitungseinheit zur automatischen Manipulation von Daten, die als digitales Signal ausgegeben werden können. HITACHI S-7800 H hat ein breites Anwendungsspektrum, von der Bildgebung bis zur Elementaranalyse bei Verwendung im Tandem mit einer energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) -Stufe. Das Mikroskop verfügt über drei Elektronenkanonensysteme: eine Kaltfeld-Emissionskanone (CFEG), eine Feldemissionskanone (FEG) und eine Thermionfeld-Emissionskanone (TFEG). Der CFEG hat eine hohe Helligkeit und eine niedrige Beschleunigungsspannung, was zu einem hochauflösenden Bild führt. Das FEG hat eine geringere Auflösungsleistung. Die thermionische Emissionspistole bietet eine hochauflösende Abbildung bei hoher Beschleunigungsspannung mit einer Reihe von 0.7-30kV. S-7800H ist ein variabler Druck SEM, der zwischen 1 und 600 Pa. arbeiten kann. Dies ermöglicht die Beobachtung und Analyse einer Vielzahl von Probentypen wie organische Materialien, Keramik und leitfähige Materialien, ermöglicht eine Vielzahl von bildgebenden Techniken. Das Mikroskop unterstützt die gleichzeitige Beleuchtung mit Primären (SE (Sekundärelektronen), BE (Rückstreuelektronen) und CL (Kathodolumineszenz)) und einem Sekundär (BSE (Rückstreuelektronen)), was eine mehrschichtige Analyse und Bildgebung ermöglicht. Das Tool bietet auch eine breite Palette von automatisierten Operationen, einschließlich sequentieller Bildgebung, Kontrastverbesserung und digitaler Zusammenführung. S-7800 H verfügt über eine motorisierte Stufe, die X-, Y-, Z-Bewegungen, verstellbaren Fokus und Neigung unterstützt und eine automatisierte sequentielle Bildgebung ermöglicht. Die Bühne hat eine große genaue Probenfläche, die sich in den X- und Y-Achsen von bis zu 75mm bewegen kann. In Bezug auf die Systemfunktionen verfügt HITACHI S-7800H über eine benutzerfreundliche Touchscreen-LCD-Schnittstelle, mit der Benutzer Textvariablen eingeben und visuelles Lesen bereitstellen können. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine Datenverarbeitungseinheit, mit der Benutzer die Bilddaten direkt manipulieren und die Daten als digitales Signal ausgeben können. Insgesamt ist HITACHI S-7800 H ein unglaublich vielseitiges SEM, das eine breite Palette von bildgebenden Techniken und automatisierten Operationen ermöglicht. Es verfügt über eine hochauflösende Bildgebung sowie in der Lage, Drücke und automatisierte Bildgebung zu variieren. Darüber hinaus ist die benutzerfreundliche Oberfläche besonders einfach zu bedienen und zu navigieren. Alle diese Funktionen kombiniert geben S-7800H einen Vorteil gegenüber konkurrierenden Produkten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor