Gebraucht HITACHI S-7800H #9249263 zu verkaufen

Das HITACHI S-7800H Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes, hochempfindliches Instrument, das eine Reihe einzigartiger Merkmale für verschiedene Forschungs- und Industrieanwendungen bietet. Dieses vielseitige Instrument bietet eine Reihe von bildgebenden und analytischen Techniken, die auf eine Reihe von Probentypen zugeschnitten werden können und gleichzeitig hochauflösende und hochdurchsatzreiche Funktionen bieten. HITACHI S-7800 H wurde für die Bereitstellung außergewöhnlicher Auflösungsleistung entwickelt und bietet Anwendern leistungsstarke Bildgebungs- und Analysefunktionen. Es ist mit einer fortschrittlichen Ultrahochvakuumkammer (UHV) ausgestattet, die die Beobachtung und Analyse von Proben ohne aufwendige Wartung oder spezialisierte Techniken ermöglicht. Das Gerät ist zudem mit modernster Scantechnik sowie einem integrierten Steuerungssystem und eingebauten Genauigkeitsmessmerkmalen ausgestattet. Weitere Merkmale sind: ein Dual-Detektor-Design mit einem dedizierten Sekundärelektronendetektor, ein Energy Dispersive Spectrometer (EDS) -Detektor und ein Rückstreu- und Pistolenstrommonitor. Diese Konstruktion ermöglicht ein breiteres Anwendungsspektrum für eine größere Menge an analytischen Informationen. Die Einheit ist auch mit einer Elektronen-Feldemissionskanone aufgebaut, die höhere Auflösungen und eine qualitativ hochwertigere Bildgebung ermöglicht. Mit der großen Auswahl an Probenhaltern, die für die Maschine vorgesehen sind, wird eine Eignung für ein breites Spektrum an Analysen ermöglicht. Die Probenstufe ist in der Lage, mehrere Bewegungsbereiche, so dass eine genaue Positionierung der Proben und automatisierte Rangieren für die Analyse und Bildgebung. Das automatisierte Bühnensteuerungswerkzeug bietet auch eine einfache und genaue Musterposition. Mit seinen fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysefunktionen ist S-7800H ein ideales Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen. Es ist auch mit einer Reihe von spezialisierten Software ausgestattet, die intuitiv und einfach zu bedienen sind. Dieses Softwarepaket umfasst 3D-Bildrekonstruktion, Analyseroutinen, Overlay- und Montage-Software sowie Messtechnik und Datenerfassungssoftware. Darüber hinaus bietet das Asset Anwendern erweiterte Konnektivitätsoptionen, die die Interaktion mit anderen Instrumenten und Datenanalyseplattformen ermöglichen. Zusammenfassend ist S-7800 H-Rasterelektronenmikroskop das ideale Instrument für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen und bietet seinen Anwendern eine einzigartige Palette von leistungsstarken bildgebenden und analytischen Merkmalen.