Gebraucht HITACHI S-7800H #9265148 zu verkaufen

HITACHI S-7800H ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einen Sekundärelektronendetektor verwendet, der eine hochauflösende Abbildung von fein detaillierten Merkmalen auf mikroskopischen Proben ermöglicht. Es ist mit einer einzigartigen Field Emission Gun (FEG) ausgestattet, die eine Auflösung von 0,9 nm bei 1 kV Abtastspannung ermöglicht. Das FEG ermöglicht auch eine niedrige Beschleunigungsspannung, um Probenschäden zu reduzieren, während dynamische Bilder der Probe mit einem hohen Grad an Detail erzeugt werden. HITACHI S-7800 H verfügt über eine einfach zu bedienende Schnittstelle und eine hervorragende Funktionalität, die genaue und effiziente Abbildungsfunktionen ermöglicht. Die automatische Stig-Shift-Funktion ist in der Lage, Bilder und Probentröpfchen genau auszurichten. Es hat auch eine automatisierte Scan-Größe und Zeitauswahl Fähigkeit, die genaue Bildgebung mit minimalem Benutzereingriff gewährleistet. Die Probenkammer wird erhitzt und die Feuchtigkeit kontrolliert, um eine stabile Umgebung zu erhalten. Das Mikroskop verfügt über einen gut beleuchteten unabhängigen Betrachtungsmonitor mit einer Touchpanel-Steuerung und einem 10-Zoll-LCD-Monitor. S-7800H ist mit einem fortgeschrittenen bildgebenden Gerät ausgestattet, das aus einem akkumulativen Multi-Detektor-Beschleunigungssystem besteht. Diese Einheit überwacht und analysiert Bilder verschiedener Detektoren im Steuerungs-Off-Axis-Ga-Detektor, rückgestreute Elektronen, Sekundärelektronen und reflektierte Elektronen. Durch die Gewinnung von Informationen aus einer Vielzahl von Detektoren ist es möglich, verschiedene physikalische Eigenschaften der Probe mit einer höheren Genauigkeit und Auflösung abzubilden. S-7800 H produziert mit seinen fortschrittlichen Detektoren hochwertige Bilder. Seine CCD-Kameras erfassen das Bild der Probe in kürzester Zeit, während seine großflächige Array-Kamera detaillierte Bilder mit hoher Auflösung liefert. Die Maschine verfügt auch über eine Mikrobildbeobachtungssoftware, die es einem ermöglicht, Proben mit überlagerten Abbildungsmodi zu beobachten und einen genauen Vergleich verschiedener Proben und Abbildungsmodi zu ermöglichen. HITACHI S-7800H verfügt auch über viele erweiterte Funktionen, die einen zuverlässigen Betrieb gewährleisten. Es bietet ein automatisiertes Bildfestnahmenwerkzeug, einen völlig automatisierten optischen Anordnungsprozess und einen Verhältnisoptimierungsvermögenswert des Signals zum Geräusch an, der genaue und zuverlässige Bilder sichert. Die verschiedenen am Mikroskop angebrachten Detektoren sind in der Lage, Partikelverteilungen, Partikelgröße und Zusammensetzung sowie Spurenelementdaten zu erfassen. Das Mikroskop verfügt über eine integrierte Datenerfassungssoftware, die Daten aus dem Mikroskop speichern kann, Bildverarbeitungssoftware zur Bildverarbeitung und eine Spektralanalysesoftware, die eine Analyse von Daten ermöglicht. HITACHI S-7800 H ist für optimale Leistung und Genauigkeit ausgelegt, was durch seine 0,9 nm Auflösung bei 1 kV Abtastspannung belegt wird. Dies wird durch seine erweiterten Analyse- und Bildgebungsfunktionen ergänzt, was es zu einem großen Vorteil für jede Forschung und industrielle Umgebung macht.