Gebraucht HITACHI S-7800H #9373119 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9373119
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
Open cassette handler, 8"
Wafer and cross section carrier plates
Turbo pumps
Controllers.
Das HITACHI S-7800H Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsfähiges Analyseinstrument, das es Wissenschaftlern und Ingenieuren ermöglicht, Partikel im Nanoskalibereich zu betrachten, zu analysieren und zu messen. Das Instrument verwendet Elektronen anstelle von Licht, um Bilder von Partikeln zu vergrößern und zu formen und bietet eine Auflösung, die die Lichtmikroskopie übersteigt. HITACHI S-7800 H enthält eine Reihe von Funktionen, um genaue Ergebnisse beim Studium von Nanomaterialien zu gewährleisten. Es verfügt über ein Energiefiltersystem, das Elektronen nach ihrem Energieniveau filtert, um ein detailliertes Bild mit hohem Kontrast zu erzeugen. Die Elektronenkanone liefert eine hohe Beschleunigungsspannung (bis zu 30 kV), um Nanomaterialien und sehr kleine Proben effektiv zu analysieren. Der in-column Sekundärelektronendetektor ermöglicht die Analyse von leitenden und nichtleitenden Proben. S-7800H bietet auch eine breite Palette von bildgebenden Modi einschließlich Rückstreuelektronenbildgebung, Sekundärelektronenbildgebung, Elementaranalyse durch EDX und WDX und Kristalldefektanalyse. Rückstreuelektronenbildgebung ist nützlich für die Untersuchung der Zusammensetzung und Oberflächentopographie einer Probe, während sekundäre Elektronenbildgebung dem Benutzer ermöglicht, die Probe aus einem anderen Winkel zu betrachten. Die EDX- und WDX-Detektoren ermöglichen eine schnelle elementare Analyse der Probe. S-7800 H ist auch mit Roboter-Probenwechsler-Technologie für die schnelle Analyse mehrerer Proben ausgestattet. Der automatisierte Wechsler kann bis zu 12 Proben gleichzeitig verarbeiten und ermöglicht einen schnellen und nahtlosen Übergang zwischen den Proben. Darüber hinaus kann das Instrument mit dem WLAN-System ferngesteuert und überwacht werden. HITACHI S-7800H SEM ist ein zuverlässiges und benutzerfreundliches Tool, das leistungsstarke Analyseergebnisse mit intuitiver Steuerungssoftware kombiniert. Seine unübertroffenen Auflösungs- und Bildgebungsfunktionen ermöglichen eine umfassende Nanomaterialanalyse. Das Instrument ist die perfekte Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure, die Einblicke in die Nanowelt gewinnen möchten.
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