Gebraucht HITACHI S-7840 #293639332 zu verkaufen

HITACHI S-7840 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop oder SEM, das hochauflösende Bildgebungsfunktionen mit einer Reihe von Funktionen und erweiterten Funktionen bietet, um den Bedürfnissen und Budgets von Forschungszentren, Universitäten und anderen analytischen Einrichtungen gerecht zu werden. Das SEM verfügt über eine fortschrittliche Säulensteuerungstechnologie, einschließlich Hochvakuum und variabler Stromdichte, mit der Benutzer die Elektronenstrahlparameter präzise anpassen, die Auflösung optimieren und den Dynamikbereich maximieren können. Dies sorgt für scharfe und klare, hochauflösende Bilder mit außergewöhnlicher Schärfentiefe. Es hat auch eine breite Palette von Probenkammerkonfigurationen, einschließlich verschiedener Arten von Navigationssystemen, und variable Arbeitsabstandseinstellung für optimale Bildaufnahme und Ausrichtung. Das Instrument ist mit fortschrittlicher Software zur automatisierten Bilderfassung, Echtzeit-Bildverarbeitung, verschiedenen Bildanalysen und quantitativen Datenerfassung integriert. Es bietet auch eine Vielzahl von Automatisierungs-, Steuerungs- und Mappingfunktionen und eine intuitive Benutzeroberfläche, um die Bedienung zu vereinfachen. Das SEM verfügt zudem über eine breite Palette benutzerfreundlicher Datenverarbeitungs- und Visualisierungstools wie Autofokus, manueller Fokus und EDX für die energiedispersive Röntgenspektroskopie. So können Anwender schnell und einfach die Zusammensetzung der Proben sowie Spurenelemente und selektive Filtration analysieren. Es verfügt zudem über eine automatisierte Stufe, die eine präzise und präzise Ausrichtung der Probe und einen motorisierten Probenhalter ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Instrument über einen beeindruckenden Scanbereich von bis zu 1 μ m und eine große Schärfentiefe und belichtet hochauflösende Bilder sowohl organischer als auch anorganischer Proben. Es ist auch mit einem Hilfsabtastsystem ausgestattet, um nichtleitende Proben zu verarbeiten, und einem superempfindlichen Sekundärelektronendetektor, der zuverlässige und wiederholbare Messungen kleiner Merkmale ermöglicht. Insgesamt ist HITACHI S 7840 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das die perfekte Kombination aus Leistung und Wert bietet. Mit seiner hochauflösenden Bildgebungsfähigkeit und seinem breiten Spektrum an Merkmalen und Fähigkeiten ist es das ideale Instrument für eine Reihe von Forschungs- und Laboranwendungen.