Gebraucht HITACHI S-7840 #293643102 zu verkaufen

HITACHI S-7840
ID: 293643102
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2001
Critical Dimension Scanning Electron Microscopes (CD-SEM), 8" 2001 vintage.
HITACHI S-7840 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die Charakterisierung fortschrittlicher Materialien entwickelt wurde. Dieses Gerät ist mit einer neu entworfenen elektronenoptischen Säule mit einer 30 kV hohen thermionischen Feldemissionskanone für erhöhte Auflösung und geringe Rauschbeobachtungen ausgestattet. Es zeigt hohe Leistungsbeispielbeobachtungsfähigkeiten wegen seiner großen geätzten Winkellinse und höherer geistiger Kontrastbildaufbereitungsanlagen. HITACHI S 7840 beinhaltet eine Glaskammer, eine automatisierte Probenabtaststufe und einen Umweltschutzschild mit einem sauberen Ultrahochvakuum (UHV) -Ausrüstung mit einem Basisdruck von 5 x 10-7 Pa.Das integrierte Hochvakuumsystem verhindert auch, dass Staub, atomare Partikel und andere Kontaminationen in das Instrument gelangen, wodurch die Analyse der Probenoberfläche mit höherer Auflösung und größerer Genauigkeit ermöglicht wird. Die integrierte CCD-Kamera und der Bilddatenprozessor ermöglichen die Erzeugung hochauflösender digitaler Bilder. Ein Array von bis zu fünf Detektoren kann mit dem SEM verwendet werden, um Daten aus der Probe zu erhalten. Zu diesen Detektoren gehören Sekundärelektron (SE), Rückstreuelektron (BSE) und fluoreszierende Röntgendetektoren. S-7840 weist auch einen berührungslosen unabhängigen Doppel-Sekundärelektronenbilddetektor auf, um Bilder zu erhalten, ohne durch den Primärelektronenstrahl gestört zu werden. Das Instrument enthält eine Vielzahl von erweiterten Funktionen, um die Auflösung und Genauigkeit zu maximieren. Der Probenhalter weist beispielsweise eine In-Column-Stufe für die horizontale Abtastung aller Probentypen auf. Die Bühne ist gekippt, drehbar und verstellbar, so dass Proben aller Formen, Größen und Materialien aus jeder Orientierung abgetastet werden können. Die Elektronenkanone hat eine 0,5-nm-Punktfokussierungsfähigkeit und die Detektoranordnung eine RMS-Einheitenauflösung von 2,5 nm. S 7840 verfügt auch über eine breite Palette von optionalem Zubehör und Software, wie eine automatische Scanmaschine und ein Mikroanalyse-Tool, um seine bereits leistungsstarken Fähigkeiten zu maximieren. Alle diese Komponenten kommen zusammen, um HITACHI S-7840 ein Hochleistungs-SEM zu machen, das überlegene bildgebende und analytische Ergebnisse für alle Arten von Materialforschung liefert.
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